PCBA 應(yīng)力應(yīng)變測(cè)試中如何選取最佳測(cè)試點(diǎn)？

時(shí)間：2025-06-17作者：優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)(深圳)有限公司瀏覽：181

優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)(深圳)有限公司專(zhuān)注于高低溫測(cè)試,光老化測(cè)試,振動(dòng)沖擊測(cè)試,IP防護(hù)等級(jí)測(cè)試,鹽霧腐蝕測(cè)試,HALT測(cè)試,sem+eds測(cè)試,清潔度測(cè)試,工業(yè)CT掃描等, 歡迎致電 15827322876

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• SEM掃描電鏡分析的作用是什么-富士康華南檢測(cè)中心

  SEM掃描電鏡分析的作用是什么？ 材料領(lǐng)域中掃描電鏡分析技術(shù)的作用非常重要，因此被廣泛應(yīng)用于各種材料的形態(tài)結(jié)構(gòu)、界面狀況、損傷機(jī)制及材料性能預(yù)測(cè)等方面的研究。 掃描電鏡可以究晶體缺陷產(chǎn)生過(guò)程，可觀察金屬材料內(nèi)部原子集結(jié)和邊界移動(dòng)的方式，還可以檢查晶體在表面機(jī)械加工中引起的損傷和輻射損傷等。 編輯:Amanda王莉

• 中框陽(yáng)極麻點(diǎn)原因

  背景：客戶(hù)量產(chǎn)中框制程：Al6013鋁擠料→粗加工→納米注塑→CNC→拋光→陽(yáng)極染色。客戶(hù)發(fā)現(xiàn)陽(yáng)極后表面出現(xiàn)點(diǎn)狀、片狀、線(xiàn)狀麻點(diǎn)，不良率~10%。為此委托實(shí)驗(yàn)室分析陽(yáng)極麻點(diǎn)原因，便于制程改進(jìn)。01.樣品信息及分析方式1.問(wèn)題描述:客戶(hù)反饋量產(chǎn)中框制程時(shí)，發(fā)現(xiàn)陽(yáng)極后表面出現(xiàn)點(diǎn)狀、片狀、線(xiàn)狀麻點(diǎn)，不良率~10％。委托實(shí)驗(yàn)室分析陽(yáng)極麻點(diǎn)原因，便于制程改進(jìn)。圖1? 異常試樣測(cè)試項(xiàng)目、規(guī)范及設(shè)備信

• 如何根據(jù)電子電氣產(chǎn)品的質(zhì)量和結(jié)構(gòu)特點(diǎn)確定沖擊試驗(yàn)的脈沖波形和峰值加速度？

  質(zhì)量因素對(duì)脈沖波形和峰值加速度的影響對(duì)于質(zhì)量較小的電子電氣產(chǎn)品，如小型手持電子設(shè)備（手機(jī)、智能手表等），其慣性相對(duì)較小。在實(shí)際使用中，可能遭遇的沖擊多是由于意外掉落或與其他物體的碰撞。這些沖擊通常具有較高的頻率和較短的作用時(shí)間。因此，在沖擊試驗(yàn)中，半正弦波脈沖波形比較合適，因?yàn)樗軌蜉^好地模擬這種瞬間碰撞的情況。對(duì)于峰值加速度，由于產(chǎn)品質(zhì)量小，其在受到?jīng)_擊時(shí)能夠承受相對(duì)較高的加速度。一般來(lái)說(shuō)，小型

• 環(huán)境老化高低溫測(cè)試怎么做-富士康華南檢測(cè)中心

  高低溫測(cè)試，又高低溫循環(huán)測(cè)試，在電子產(chǎn)品環(huán)境可靠性測(cè)試中較為常見(jiàn)。 高低溫測(cè)試是用帶加熱和制冷功能的可編程高低溫箱進(jìn)行測(cè)試。 先檢查產(chǎn)品拍照，再放進(jìn)高低溫箱中，設(shè)置溫度箱參數(shù)、各自溫度保持時(shí)間、周期數(shù)等，測(cè)試結(jié)束再檢查樣品性能，對(duì)比分析。 編輯:Amanda王莉