優(yōu)爾鴻信11月測(cè)量審核計(jì)劃邀約！

時(shí)間：2025-07-23作者：優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)(深圳)有限公司瀏覽：478

優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)(深圳)有限公司專注于高低溫測(cè)試,光老化測(cè)試,振動(dòng)沖擊測(cè)試,IP防護(hù)等級(jí)測(cè)試,鹽霧腐蝕測(cè)試,HALT測(cè)試,sem+eds測(cè)試,清潔度測(cè)試,工業(yè)CT掃描等, 歡迎致電 15827322876

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  詞條說明

• LED焊接不良原因分析

  背景某產(chǎn)商反映其產(chǎn)品PCBA板存在焊接后物料易脫落之失效現(xiàn)象（PCBA板及脫落物料見下圖），為查找其脫落之根本原因，故委托我實(shí)驗(yàn)室對(duì)其產(chǎn)品物料及PCBA板進(jìn)行失效分析。? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? &nbs

• 優(yōu)爾鴻信成分分析|FTIR紅外光譜圖分析方法

  FTIR紅外光譜圖分析方法 FTIR紅外光譜譜圖比對(duì)分析有現(xiàn)成紅外譜圖庫參考，通過相似度、譜圖重疊程度綜合判定。 但是也會(huì)面臨標(biāo)準(zhǔn)譜庫檢索導(dǎo)致的誤判 需要足夠多的化學(xué)分析、材料研發(fā)經(jīng)驗(yàn)來支撐 優(yōu)爾鴻信，自1996年建立紅外光譜實(shí)驗(yàn)室，并將實(shí)驗(yàn)室研發(fā)技術(shù)，導(dǎo)入到一線生產(chǎn)中，幫助解決問題，積累一些經(jīng)驗(yàn)。 編輯：Amanda王莉

• 優(yōu)爾鴻信老化測(cè)試|三綜合試驗(yàn)是什么

  三綜合試驗(yàn)是什么？?三綜合試驗(yàn)設(shè)備可進(jìn)行高溫、低溫、溫度循環(huán)、溫度沖擊、恒溫恒濕、交變濕熱、正弦定頻、正弦掃頻、隨機(jī)振動(dòng)、沖擊、高溫機(jī)械沖擊、低溫機(jī)械沖擊、溫度-沖擊響應(yīng)普、溫度-振動(dòng)、溫度-振動(dòng)-濕度等產(chǎn)品的環(huán)境試驗(yàn)。

• 電子電氣產(chǎn)品在低氣壓環(huán)境下，內(nèi)部元件（如電路板、電容、芯片等）可能出現(xiàn)哪些故障？如何通過低氣壓測(cè)試來提前發(fā)現(xiàn)并預(yù)防這些故障？

  一、可能出現(xiàn)的故障電路板方面在低氣壓環(huán)境下，電路板可能出現(xiàn)分層故障。由于氣壓降低，電路板內(nèi)部的層間壓力失衡，特別是多層電路板，其內(nèi)部的粘結(jié)材料可能會(huì)受到影響。例如，在飛機(jī)上使用的電子設(shè)備，當(dāng)處于高空低氣壓環(huán)境時(shí)，電路板層間可能會(huì)產(chǎn)生微小的空隙，這會(huì)影響信號(hào)傳輸，導(dǎo)致信號(hào)衰減或干擾。焊點(diǎn)也可能出現(xiàn)問題。低氣壓環(huán)境下，焊點(diǎn)處的金屬材料熱膨脹系數(shù)和應(yīng)力分布會(huì)發(fā)生變化。長(zhǎng)時(shí)間處于這種環(huán)境，焊點(diǎn)可能會(huì)出現(xiàn)微