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光譜分析法原子發(fā)射光譜法(AES):原理是通過激發(fā)樣品中的原子,使其發(fā)射出具有特征波長的光。對于不銹鋼,將樣品在高溫等離子體等激發(fā)源下激發(fā),不同元素的原子會發(fā)射出特定波長的光,如鉻原子發(fā)射出特定波長的光用于其含量的測定。檢測時,把不銹鋼樣品制成合適的形狀(如塊狀或屑狀),放入光譜儀的激發(fā)源中,儀器會記錄發(fā)射光的波長和強度,通過與已知標準樣品的光譜對比,確定各種化學(xué)成分的含量。這種方法可同時檢測多種
形位公差測量標準主要如下:《GB/T 1182-2018產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS) 幾何公差 形狀、方向、位置和跳動公差標注.pdf》?《GB_T1182-1996形狀和位置公差通則、定義、符號和圖樣表示法》?實際的工業(yè)制品測量形位公差,會有很多技術(shù)細節(jié),需要來自測量實驗室的建議,提供形位公差測量方案,詳情咨詢優(yōu)爾鴻信編輯:Amanda王莉
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優(yōu)爾鴻信檢測|耐化學(xué)試劑檢測對電子電氣產(chǎn)品的重要性
耐化學(xué)試劑檢測對電子電氣產(chǎn)品有著極其重要的意義。首先,從產(chǎn)品的安全性角度考慮。電子電氣產(chǎn)品在實際使用環(huán)境中可能會接觸到各種化學(xué)物質(zhì),如清潔用品、工業(yè)化學(xué)品、大氣中的污染物等。如果產(chǎn)品的外殼、內(nèi)部元件等不能抵抗這些化學(xué)試劑的侵蝕,可能會導(dǎo)致安全隱患。例如,當電子設(shè)備的絕緣材料被化學(xué)試劑腐蝕后,其絕緣性能下降,容易引發(fā)短路,甚至可能造成火災(zāi)、電擊等嚴重事故。通過耐化學(xué)試劑檢測,可以篩選出符合安全要求的
公司名: 優(yōu)爾鴻信檢測技術(shù)(深圳)有限公司
聯(lián)系人: 曹
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地 址: 廣東深圳龍華街道辦油松第十工業(yè)區(qū)東環(huán)二路二號
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網(wǎng) 址: foxconn_cmc.cn.b2b168.com
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