航天領(lǐng)域，偵查火星可以用美國Alluxa的廣角陷波濾光片

時間：2022-03-17作者：深圳維爾克斯光電有限公司瀏覽：284

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• 雙微透鏡陣列方案的子單元孔徑對成像均勻性的影響

  成像型微透鏡陣列作為常用的光路勻化元件，具備適用波長廣，成本低，勻化效果好的特點。使用微透鏡陣列進行光路勻化的常見方案有兩種，一種是單片微透鏡陣列，即雙面微透鏡陣列或稱雙面復(fù)眼透鏡。另一種是兩片，平凸型的復(fù)眼透鏡的雙微透鏡勻化光路。本文針對后者的勻化方案中，探討了子單元相對孔徑對成像均勻性的影響。兩種微透鏡勻化光路的方案中，第一種單片微透鏡陣列的，由于單片雙面的緊湊結(jié)構(gòu)，多用于集成式光路。但是其可

• 用于極紫外光EUV，集成選擇性帶通薄膜濾波片的硅光電二極管

  選擇了六個在極紫外光譜中具有有用帶通的涂層進行研究：鋁、鋁/碳，鋁/碳/鈧，鈦，錫，和銀。這些濾波片通常用于0.1至80納米的區(qū)域，并有10到50納米的帶通。濾光材料涂層是由有經(jīng)驗的無支架濾光片供應(yīng)商在晶圓上涂抹的，以確保光學(xué)質(zhì)量是最先進的。涂層和非涂層光電二極管的輻射測量是通過美國國家標準技術(shù)研究所（NIST）的極紫外探測器標準進行的。該設(shè)施同時利用了NIST電子存儲環(huán)同步輻射源、SURF II

• 深圳維爾克斯代理的長焦深DOE的原理及使用手冊

  深圳維爾克斯專業(yè)代理長焦深DOE衍射光學(xué)元件，它能夠沿著光軸在焦距附近產(chǎn)生一個能量分布近乎均勻、焦深長度幾百微米到幾毫米的焦點。這種長焦點與普通焦點相比，寬度幾乎不變，但是焦點長度大大增加，因此特別適合材料的深度切割。這篇應(yīng)用文檔是為了便于行業(yè)同仁和用戶理解和使用長焦深DOE。長焦深DOE的工作原理為了便于理解，我們可以借用多焦點DOE的模型來解釋長焦深DOE的原理。多焦點DOE能夠?qū)⒁皇夥殖蓭?/p>

• 集塵環(huán)境下使用Specim高光譜相機的注意事項

  高光譜成像是一種表面測量方法，因此灰塵或任何遮蓋樣品表面的東西都會干擾掃描并阻礙測量。那么如何在多塵環(huán)境中操作高光譜相機測量樣品呢？?灰塵出現(xiàn)在被測物體上干凈的樣品總是得到更好的測量，能提高它們的識別度。例如，在測量樣品核心部分時，必須在掃描之前清潔樣品。在回收過程中，灰塵或包裝標簽會阻礙系統(tǒng)的分揀精度。如果要分揀的材料無法清潔或充分暴露在攝像機下，則需要調(diào)整分揀算法以將這種情況考慮在內(nèi)