LaserOptik不同基片的折射率和透射譜

時(shí)間：2023-09-04作者：深圳維爾克斯光電有限公司瀏覽：137

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  詞條說明

• 四波橫向剪切干涉技術(shù)

  篇文章主要介紹了的PHASICS公司的核心技術(shù)——波前測量。PHASICS提供所有級別的集成，從單一的波前傳感器到模塊，再到完整的系統(tǒng)，無論是干涉儀還是完整的MTF站。在PHASICS所有的產(chǎn)品中都使用了一種技術(shù)，這就是所謂的四波橫向剪切干涉儀。它是一種衍射光柵和傳感器技術(shù)的結(jié)合。我們使用各種傳感器技術(shù)來覆蓋從紫外線到遠(yuǎn)紅外線。四波橫向剪切干涉儀?(QWLSI)的原理當(dāng)待測波前經(jīng)過波前分

• 平頂光束整形器用途和使用建議

  平頂光束整形器是一種衍射光學(xué)元件，它將入射高斯光束的相位改變?yōu)橐粋€(gè)平頂形狀的能量分布。這篇文章將討論平頂光束整形器的用途和什么時(shí)候適合使用它。激光束整形導(dǎo)論如今，通過將激光束塑造成各種針對特定處理和工藝的能量分布，提高了激光制造的功率利用率和激光加工效果，實(shí)現(xiàn)了更高的激光加工效率和激光加工質(zhì)量。當(dāng)提到光束整形光學(xué)時(shí)，市場上有幾種不同的方法，最簡單的方法是粗玻璃，它將穿過它的光漫射以產(chǎn)生均勻光束，到

• 集塵環(huán)境下使用Specim高光譜相機(jī)的注意事項(xiàng)

  高光譜成像是一種表面測量方法，因此灰塵或任何遮蓋樣品表面的東西都會干擾掃描并阻礙測量。那么如何在多塵環(huán)境中操作高光譜相機(jī)測量樣品呢？?灰塵出現(xiàn)在被測物體上干凈的樣品總是得到更好的測量，能提高它們的識別度。例如，在測量樣品核心部分時(shí)，必須在掃描之前清潔樣品。在回收過程中，灰塵或包裝標(biāo)簽會阻礙系統(tǒng)的分揀精度。如果要分揀的材料無法清潔或充分暴露在攝像機(jī)下，則需要調(diào)整分揀算法以將這種情況考慮在內(nèi)

• 全站型自準(zhǔn)直儀

  DUMA全站型自準(zhǔn)直儀是在內(nèi)調(diào)焦自準(zhǔn)直儀EAC-1012-19-FO的基礎(chǔ)上發(fā)展出來的一系列產(chǎn)品。全站型自準(zhǔn)直儀具有更強(qiáng)大的功能，可用于VCSEL、AR、VR等領(lǐng)域的測量，具體型號包括EAC-1012-19-FO/T-RG-IR，EAC-1012-19-FO/T-RGB，EAC-1012-19-FO/T-1060和EAC-1012-19-FO/T-1310。在我們生活中，如AR、VR、激光雷達(dá)、自