Opto diode多層濾光薄膜在17-150 ?波段的硅光電二極管的特性表征描述

時(shí)間：2023-10-10作者：深圳維爾克斯光電有限公司瀏覽：114

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• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 簡(jiǎn)單測(cè)試Alphalas超快探測(cè)器能否正常使用

  Alphalas UPD系列超快光電探測(cè)器覆蓋170至2600nm的光譜范圍，是激光和光子學(xué)研究不可或缺的工具。但是在運(yùn)輸?shù)倪^(guò)程中難免會(huì)出現(xiàn)損壞的情況，需要進(jìn)行超快光電探測(cè)器檢測(cè)。本文主要介紹對(duì)UPD超快光電探測(cè)器的一般功能的簡(jiǎn)單測(cè)試，幫助客戶在使用前判斷UPD光電探測(cè)器的好壞。所有光電二極管均封裝在緊湊堅(jiān)固的鋁制外殼中，并可通過(guò)電池或外部電源進(jìn)行偏置。以下是UPD超快探測(cè)器檢測(cè)的簡(jiǎn)單判斷：1.

• 衍射分束器使用案例：激光分束器可實(shí)現(xiàn)高效率激光穿孔

  激光分束器可實(shí)現(xiàn)高效率激光穿孔，通過(guò)精確地分束來(lái)實(shí)現(xiàn)許多激光應(yīng)用。通過(guò)使用衍射激光分束器分束，利用激光鉆孔、激光打孔可以同時(shí)制造許多孔，從而實(shí)現(xiàn)更高的加工速度和產(chǎn)量。單個(gè)DOE分束器和大角度掃描場(chǎng)鏡，足以在很短的時(shí)間內(nèi)覆蓋超過(guò)20X20cm的大面積穿孔圖案，從而實(shí)現(xiàn)高速輥式生產(chǎn)方案。越來(lái)越多的激光分束器應(yīng)用在薄片穿孔領(lǐng)域，其典型的使用案例有：食品包裝穿孔，生產(chǎn)定制設(shè)計(jì)的過(guò)濾器，材料的預(yù)弱化，香煙過(guò)

• 集塵環(huán)境下使用Specim高光譜相機(jī)的注意事項(xiàng)

  高光譜成像是一種表面測(cè)量方法，因此灰塵或任何遮蓋樣品表面的東西都會(huì)干擾掃描并阻礙測(cè)量。那么如何在多塵環(huán)境中操作高光譜相機(jī)測(cè)量樣品呢？?灰塵出現(xiàn)在被測(cè)物體上干凈的樣品總是得到更好的測(cè)量，能提高它們的識(shí)別度。例如，在測(cè)量樣品核心部分時(shí)，必須在掃描之前清潔樣品。在回收過(guò)程中，灰塵或包裝標(biāo)簽會(huì)阻礙系統(tǒng)的分揀精度。如果要分揀的材料無(wú)法清潔或充分暴露在攝像機(jī)下，則需要調(diào)整分揀算法以將這種情況考慮在內(nèi)

• Phasics波前傳感器的使用方向

  Phasics 的波前傳感器和定量相位成像相機(jī)結(jié)構(gòu)緊湊，對(duì)振動(dòng)不敏感，可與任何光學(xué)顯微鏡集成。這使得?SID4?成為執(zhí)行在線和離線材料鑒定的理想工具，例如繪制透明材料中Phasics測(cè)量折射率變化、激光誘導(dǎo)波前傳感器測(cè)激光損傷閾值監(jiān)測(cè)、光學(xué)波前傳感器測(cè)量表面形貌和納米顆粒光熱成像。可以測(cè)量范圍廣泛的樣品，包括飛秒激光刻寫(xiě)波導(dǎo)、光纖布拉格光柵、微結(jié)構(gòu)光學(xué)表面、光學(xué)涂層、納米粒子。