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芬蘭SPECIM的V10E應(yīng)用在納米級高光譜成像觀察細(xì)胞活動
納米技術(shù)是一個快速增長的研發(fā)領(lǐng)域。這種技術(shù)增長催生了對更強(qiáng)大的工具和設(shè)備的需求,特別是在成像和圖像分析方面。研究人員需要能夠快速輕松地對天然狀態(tài)下的目標(biāo)的納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行成像、表征和繪圖,而無需染色和相關(guān)樣品制備。CytoViva(一家顯微鏡成像產(chǎn)品制造商)通過將Specim的世界級光譜儀與其專利的增強(qiáng)暗場(EDF)顯微鏡光學(xué)元件和定制的高光譜圖像分析軟件相結(jié)合,解決了這一需求。高光譜成像是如何在納米
非線性晶體指有非線性光學(xué)效應(yīng)的晶體,廣義指在強(qiáng)光或外場作用下能產(chǎn)生非線性光學(xué)效應(yīng)的晶體。通常將強(qiáng)光作用下產(chǎn)生的稱為非線性光學(xué)晶體。立陶宛Optogama公司為基礎(chǔ)研究、應(yīng)用研究和工業(yè)應(yīng)用提供不同的非線性晶體。晶體生產(chǎn)技術(shù)有:Stepanov,Kyropoulos,CZ,溫度梯度法,通量法。AgGaSe 2晶體、AgGaS 2晶體、CdSe晶體是三種相對不太常用的非線性光學(xué)晶體,但也有各自特殊的效果
optodiode探測器常見問題及解決方法如下。美國optodiode探測器響應(yīng)時間太長(時間常數(shù)太慢),第一步是檢查源強(qiáng)度。如果光源的強(qiáng)度太高(超過1mW/cm2),探測器材料將加熱到改變探測器特性的點(diǎn)。這種變化迫使探測器比最初進(jìn)行測量所需的時間更長,因為基本上探測器被重新敏化,這改變了探測器的光導(dǎo)特性。對探測器性能的影響程度取決于加熱/變化區(qū)域與整個探測器表面積的比率。optodiode探測器
Alphalas UPD系列超快光電探測器覆蓋170至2600nm的光譜范圍,是激光和光子學(xué)研究不可或缺的工具。但是在運(yùn)輸?shù)倪^程中難免會出現(xiàn)損壞的情況,需要進(jìn)行超快光電探測器檢測。本文主要介紹對UPD超快光電探測器的一般功能的簡單測試,幫助客戶在使用前判斷UPD光電探測器的好壞。所有光電二極管均封裝在緊湊堅固的鋁制外殼中,并可通過電池或外部電源進(jìn)行偏置。以下是UPD超快探測器檢測的簡單判斷:1.
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