自動校準、新型長波紅外相機

時間：2022-07-27

作者：深圳維爾克斯光電有限公司

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詞條說明
中紅外反射特征結合量子級聯(lián)激光器QCL用于檢測表面微量化學物質
中紅外光譜學是一個有前景的方法用于非接觸式的檢測，Blockeng利用量子級聯(lián)激光器檢測表面微量化學的一種方式。因為大多數(shù)物質在光譜的中紅外部分具有強而獨特的吸收特征，我們的探測方法，主動式中紅外高光譜成像（HSI），包括在與高速相機相結合，捕捉目標表面的高光譜圖像（即超立方體反射光譜。對這些超立方體進行了光譜特征分析，展示出了用于化學檢測的優(yōu)點。這項技術的一個非常重要的應用是探測微量爆炸物。文章
基于波長可調諧量子級聯(lián)激光器的高速和大范圍掃描對表面微量化學物質的檢測
中紅外（MIR）光譜是最有前途的痕量表面遠距離探測方法之一。由于大多數(shù)物質在中紅外波段部分具有強而獨特的吸收特性光譜。David B. Kelley, Derek Wood, Anish K. Goyal , and Petros Kotidis發(fā)表了一篇High-speed and large-area scanning of surfaces for trace chemicals using
離軸拋物面光纖準直器-反射型
離軸拋物面式光纖耦合器又稱為離軸拋物面光纖準直器、光纖準直器（反射型）、反射式準直器或反射型光纖準直器。目前標準化的有24種型號，其通光孔徑主要分為?7.5 mm、?11 mm和?22 mm三種。離軸拋物面光纖準直器具有消色差設計的特點，能夠準直反射鏡的整個反射帶。其適用于FC/PC，F(xiàn)C/APC，SMA 905三種光纖接頭，能夠針對不同接口的應用，將多色光耦合到多模光纖中。離軸拋物面光纖準直器是
K&S主動隔振臺在電子顯微鏡領域的應用
電子顯微鏡Electronic Microscopes簡稱電鏡，用高能電子束以非常精細的尺度研究物體，已成為現(xiàn)代科學技術中不可缺少的重要工具。為確保電子顯微鏡超高質量成像，實現(xiàn)電子顯微鏡隔振，電子顯微鏡防震臺是必不可少的。傳統(tǒng)的隔振方法主要是建造專門的隔離地板，用特殊的混凝土塊改變地基，用混凝土塊進行被動減震。這種方法的缺點相當明顯，不可能改變工具的位置、機器停機時間長、沒有靈活性、沒有可配置性、