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詞條說明
optodiode探測(cè)器常見問題及解決方法如下。美國(guó)optodiode探測(cè)器響應(yīng)時(shí)間太長(zhǎng)(時(shí)間常數(shù)太慢),第一步是檢查源強(qiáng)度。如果光源的強(qiáng)度太高(超過1mW/cm2),探測(cè)器材料將加熱到改變探測(cè)器特性的點(diǎn)。這種變化迫使探測(cè)器比最初進(jìn)行測(cè)量所需的時(shí)間更長(zhǎng),因?yàn)榛旧咸綔y(cè)器被重新敏化,這改變了探測(cè)器的光導(dǎo)特性。對(duì)探測(cè)器性能的影響程度取決于加熱/變化區(qū)域與整個(gè)探測(cè)器表面積的比率。optodiode探測(cè)器
這篇文章主要介紹了的PHASICS公司的核心技術(shù)——波前測(cè)量。PHASICS提供所有級(jí)別的集成,從單一的波前傳感器到模塊,再到完整的系統(tǒng),無論是干涉儀還是完整的MTF站。在PHASICS所有的產(chǎn)品中都使用了一種技術(shù),這就是所謂的四波橫向剪切干涉儀。它是一種衍射光柵和傳感器技術(shù)的結(jié)合。我們使用各種傳感器技術(shù)來覆蓋從紫外線到遠(yuǎn)紅外線。四波橫向剪切干涉儀?(QWLSI)的原理當(dāng)待測(cè)波前經(jīng)過波前
Deep Cleave模組1.Deep Cleave模組特征Deep Cleave是激光玻璃切割完整的光學(xué)解決方案,在較大的聚焦深度(DOF)內(nèi)提供具有恒定峰值功率的聚焦光斑。DeepCleave模組在入口設(shè)有一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的外部SM1螺紋,以簡(jiǎn)化集成。每個(gè)Deep Cleave模組出廠時(shí)都附有單獨(dú)的測(cè)試報(bào)告。2.Deep Cleave模組的優(yōu)勢(shì)目前,大多數(shù)玻璃切割模組使用錐透鏡或衍射錐透鏡,獲得聚焦深
crylas激光器用于激光誘導(dǎo)熒光檢測(cè)光源檢測(cè)的應(yīng)用
Wang H等科學(xué)家在其文章中提出了一種關(guān)于促紅細(xì)胞生成素(EPO)檢測(cè)的方法,EPO是一種重要的糖蛋白激素。重組人EPO(rhEPO)是一種重要的治療藥物,也可作為體育運(yùn)動(dòng)中的興奮劑。制藥和體育領(lǐng)域EPO gly-co構(gòu)體的分析從幾個(gè)方面給分析科學(xué)家?guī)砹撕艽蟮奶魬?zhàn),其中靈敏的檢測(cè)和有效便捷的樣品制備是兩個(gè)關(guān)鍵問題。在此,我們探討了這兩個(gè)方面的新可能性。建立了深紫外激光誘導(dǎo)熒光檢測(cè)(Deep U
公司名: 深圳維爾克斯光電有限公司
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電 話: 0755-84870203
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