使用Specim高光譜相機測量樣品透射率的注意指南

時間：2022-10-05作者：深圳維爾克斯光電有限公司瀏覽：183

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• 工程散射片的強度均勻照明和目標面均勻照明

  根據(jù)操作條件和應(yīng)用要求，RPC Photonics的工程散射片可以將激光光束散射成特定形狀的光斑，具體包括強度均勻照明、工程散射片均勻照明和工程擴散片均勻光斑。在本文中，我們討論了定義光分布的一些典型方法以及兩種常見的照明條件，即角度空間上的強度分布和工作面上輻照度。1.強度Intensity，或者說，輻射強度定義為散射片向給定方向發(fā)射的每單位立體角功率?？梢韵胂筇綔y器沿著以散射片為中心的圓弧移動

• 半導(dǎo)體激光器 單/多模 拉曼探測器

  RPMC公司集成拉曼探測器 RPMC公司單模半導(dǎo)體激光器，窄線寬，多模波長穩(wěn)定窄線寬激光器模塊 M-type, U-type, Matched Pair 波長穩(wěn)定窄線寬激光模塊： RPMC公司的波長穩(wěn)定激光器具有高輸出功率、窄光譜線寬（<100 MHz FWHM），旨在取代昂貴的DFB，DBR，光纖和外腔激光器。它能提供出色的波長穩(wěn)定性，無論外殼溫度如何，激光器的穩(wěn)定峰值波長仍保持“鎖定”狀

• 自動校準、新型長波紅外相機

  8-14um，基于a-Si非晶硅材料探測器的遠紅外相機Xenics紅外相機的LWIR長波紅外相機，基于a-Si非晶硅材料探測器的長波紅外非制冷相機，包括小型、高性能長波紅外非制冷相機（遠紅外相機）Gobi+ 640系列和緊湊型高分辨率工業(yè)熱成像應(yīng)用的Ceres T系列。a-Si探測器材料是一種新興的半導(dǎo)體薄膜材料，是一種直接能帶半導(dǎo)體，一般除了應(yīng)用在半導(dǎo)體、太陽能電池上，也可用作自計溫度計照相機(

• 四波橫向剪切干涉技術(shù)是波前分析儀的核心

  這篇文章主要介紹了的PHASICS公司的核心技術(shù)——波前測量。PHASICS提供所有級別的集成，從單一的波前傳感器到模塊，再到完整的系統(tǒng)，無論是干涉儀還是完整的MTF站。在PHASICS所有的產(chǎn)品中都使用了一種技術(shù)，這就是所謂的四波橫向剪切干涉儀。它是一種衍射光柵和傳感器技術(shù)的結(jié)合。我們使用各種傳感器技術(shù)來覆蓋從紫外線到遠紅外線。四波橫向剪切干涉儀?(QWLSI)的原理當待測波前經(jīng)過波前