優(yōu)爾鴻信檢測(cè)|黑色陽(yáng)極氧化膜脫落原因有哪些？

時(shí)間：2025-08-08作者：優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)(深圳)有限公司瀏覽：839

優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)(深圳)有限公司專(zhuān)注于高低溫測(cè)試,光老化測(cè)試,振動(dòng)沖擊測(cè)試,IP防護(hù)等級(jí)測(cè)試,鹽霧腐蝕測(cè)試,HALT測(cè)試,sem+eds測(cè)試,清潔度測(cè)試,工業(yè)CT掃描等, 歡迎致電 15827322876

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 在復(fù)雜形狀的通用零部件尺寸及幾何公差檢測(cè)中，如何提高檢測(cè)效率并保證檢測(cè)精度？

  合理選擇檢測(cè)設(shè)備與方法根據(jù)零部件的復(fù)雜程度和精度要求選擇合適的檢測(cè)設(shè)備。對(duì)于具有復(fù)雜曲面的零部件，光學(xué)掃描儀是一個(gè)很好的選擇。它可以快速獲取零部件的表面形狀數(shù)據(jù)，通過(guò)軟件分析來(lái)確定尺寸和幾何公差。例如，在檢測(cè)汽車(chē)發(fā)動(dòng)機(jī)進(jìn)氣歧管這種復(fù)雜形狀的零部件時(shí)，光學(xué)掃描儀能夠在短時(shí)間內(nèi)獲取大量的點(diǎn)云數(shù)據(jù)，為后續(xù)的分析提供基礎(chǔ)。對(duì)于精度要求極高的復(fù)雜零部件，三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x是必不可少的。在使用時(shí)，應(yīng)采用合適的探頭，

• 鴻海 - 富士康永續(xù)獎(jiǎng)盛大舉行：ESG 創(chuàng)意井噴，評(píng)選規(guī)模再創(chuàng)新高

  全球最大科技制造與服務(wù)商富士康科技集團(tuán)于今日舉行集團(tuán)年度ESG盛事，“2025 鴻海-富士康永續(xù)獎(jiǎng)”頒獎(jiǎng)典禮，來(lái)自集團(tuán)全球各廠區(qū)的同仁們與供應(yīng)鏈伙伴通過(guò)線上線下結(jié)合的方式共同參與，今年總共頒發(fā)出 88 個(gè)獎(jiǎng)項(xiàng)，肯定各子公司、事業(yè)群同仁在ESG領(lǐng)域上的努力。同時(shí)通過(guò)舉辦圓桌論壇的方式，回顧集團(tuán)在永續(xù)發(fā)展方面取得的成就與里程碑事件，并見(jiàn)證了永續(xù)發(fā)展領(lǐng)域取得突出貢獻(xiàn)的同仁與伙伴獲得殊榮的時(shí)刻。典禮中，富

• 優(yōu)爾鴻信老化測(cè)試|溫度濕度振動(dòng)三綜合試驗(yàn)箱

  三綜合試驗(yàn)需要的設(shè)備有：溫濕度三綜合試驗(yàn)箱三綜合振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)溫濕度振動(dòng)三綜合試驗(yàn)機(jī)三綜合振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)三綜合環(huán)境試驗(yàn)箱深圳龍華富士康華南檢測(cè)中心，有專(zhuān)門(mén)的三綜合試驗(yàn)中心，進(jìn)口溫濕度三綜合振動(dòng)試驗(yàn)箱，能滿足高低溫濕熱交變振動(dòng)三綜合試驗(yàn)需求。

• 優(yōu)爾鴻信檢測(cè)|IC (集成電路)檢測(cè)的常用方法有哪些？

  集成電路（IC）檢測(cè)是確保其質(zhì)量和性能的關(guān)鍵步驟，以下是一些常用的檢測(cè)方法：一、外觀檢查這是最基本的檢測(cè)方法。通過(guò)肉眼或借助放大鏡來(lái)檢查 IC 的引腳是否有彎曲、折斷、氧化等情況。同時(shí)，查看芯片表面是否有劃痕、裂紋、污漬或其他物理?yè)p壞。對(duì)于封裝體，檢查其標(biāo)記是否清晰、完整，確保型號(hào)等信息準(zhǔn)確無(wú)誤，因?yàn)闃?biāo)記錯(cuò)誤可能會(huì)導(dǎo)致使用錯(cuò)誤的芯片。二、功能測(cè)試在線測(cè)試（ICT）這是在電路板上對(duì) IC 進(jìn)行測(cè)試的