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詞條說明
高低溫測試,又高低溫循環(huán)測試,在電子產(chǎn)品環(huán)境可靠性測試中較為常見。 高低溫測試是用帶加熱和制冷功能的可編程高低溫箱進(jìn)行測試。 先檢查產(chǎn)品拍照,再放進(jìn)高低溫箱中,設(shè)置溫度箱參數(shù)、各自溫度保持時(shí)間、周期數(shù)等,測試結(jié)束再檢查樣品性能,對比分析。 編輯:Amanda王莉
金屬材料晶粒尺寸檢測有哪些常用方法?它們的精度和適用范圍分別是怎樣的?
光學(xué)顯微鏡法原理和操作:這是最基本的方法。通過對金屬材料進(jìn)行適當(dāng)?shù)慕鹣嘀苽洌ㄈ缜懈睢⒀心?、拋光和腐蝕),使晶粒邊界顯現(xiàn)出來,然后在光學(xué)顯微鏡下觀察。利用顯微鏡的放大功能,可以直接測量晶粒的尺寸。精度:精度相對較低,一般可以精確到微米級別。例如,對于晶粒尺寸在 10 - 100 微米的材料,能夠得到比較準(zhǔn)確的測量結(jié)果,但對于亞微米級別的晶粒,測量就比較困難。適用范圍:適用于晶粒尺寸較大(通常大于 1
如何根據(jù)電子電氣產(chǎn)品的尺寸和重量來確定跌落試驗(yàn)的高度標(biāo)準(zhǔn)?
在確定電子電氣產(chǎn)品跌落試驗(yàn)高度標(biāo)準(zhǔn)時(shí),尺寸和重量是兩個(gè)關(guān)鍵因素。首先考慮產(chǎn)品尺寸。對于較小尺寸的產(chǎn)品,例如小型手持電子設(shè)備,如智能手表、藍(lán)牙耳機(jī)等,其結(jié)構(gòu)相對緊湊。由于尺寸小,在跌落過程中空氣阻力對其影響較小,而且它們在實(shí)際使用場景中可能會(huì)從較高位置掉落,如從桌子、口袋等位置。因此,這類產(chǎn)品的跌落試驗(yàn)高度可以相對較高,一般可設(shè)置在 1 - 1.5 米左右。這樣的高度能夠較好地模擬用戶日常使用中產(chǎn)品
導(dǎo)致金屬涂層的失效的主要因素有:光降解老化、水降解老化、涂層發(fā)泡、起鼓問題等因素導(dǎo)致。?金屬涂層失效原因分析,有助于優(yōu)化涂層厚度、涂層表面處理工藝提升、表面涂層壽命延長。?更多金屬涂層失效分析,建議尋找當(dāng)?shù)貙?shí)驗(yàn)室資源,獲得合適的建議再做優(yōu)化調(diào)整。?編輯:Amanda王莉
公司名: 優(yōu)爾鴻信檢測技術(shù)(深圳)有限公司
聯(lián)系人: 曹
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手 機(jī): 15827322876
微 信: 15827322876
地 址: 廣東深圳龍華街道辦油松第十工業(yè)區(qū)東環(huán)二路二號
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網(wǎng) 址: foxconn_cmc.cn.b2b168.com
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