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時間：2025-07-24作者：優(yōu)爾鴻信檢測技術(shù)(深圳)有限公司瀏覽：123

優(yōu)爾鴻信檢測技術(shù)(深圳)有限公司專注于高低溫測試,光老化測試,振動沖擊測試,IP防護(hù)等級測試,鹽霧腐蝕測試,HALT測試,sem+eds測試,清潔度測試,工業(yè)CT掃描等, 歡迎致電 15827322876

• 詞條

  詞條說明

• 恒定濕熱試驗(yàn)對電子電氣產(chǎn)品的長期可靠性有哪些潛在影響？如何評估？

  一、潛在影響材料性能方面潮濕環(huán)境會使電子電氣產(chǎn)品中的絕緣材料吸濕。例如，對于塑料外殼和絕緣層，吸濕后會導(dǎo)致其介電常數(shù)改變，降低絕緣性能。長期處于這種狀態(tài)可能會引發(fā)絕緣擊穿，造成短路。同時，金屬部件容易發(fā)生腐蝕，特別是在有電解質(zhì)存在的情況下（如空氣中的鹽分、產(chǎn)品內(nèi)部的雜質(zhì)等）。以印制電路板（PCB）上的金屬線路為例，腐蝕會使線路的橫截面積減小，電阻增大，影響信號傳輸，甚至導(dǎo)致線路中斷。電氣性能方面濕

• 優(yōu)爾鴻信精密量測|形位公差分類-定向-輪廓度-幾何形狀

  形位公差依跳動分類：圓跳動形位公差 和全跳動形位公差。圓跳動形位公差，又分為：徑向圓跳動公差、端面圓跳動形位公差、斜向圓跳動公差、斜向（給定角度的）圓跳動公差。形位公差，依定向分類形位公差，依定向分類：平行度形位公差、垂直度形位公差、傾斜度形位公差。 有分為線對線平行度公差、線對面平行度公差、面對線平行度公差、面對面平行度公差。形位公差依輪廓度分類形位公差，依輪廓度分類，可以分為，線輪廓度形位公差

• 金屬材料晶粒尺寸檢測有哪些常用方法？它們的精度和適用范圍分別是怎樣的？

  光學(xué)顯微鏡法原理和操作：這是最基本的方法。通過對金屬材料進(jìn)行適當(dāng)?shù)慕鹣嘀苽洌ㄈ缜懈睢⒀心?、拋光和腐蝕），使晶粒邊界顯現(xiàn)出來，然后在光學(xué)顯微鏡下觀察。利用顯微鏡的放大功能，可以直接測量晶粒的尺寸。精度：精度相對較低，一般可以精確到微米級別。例如，對于晶粒尺寸在 10 - 100 微米的材料，能夠得到比較準(zhǔn)確的測量結(jié)果，但對于亞微米級別的晶粒，測量就比較困難。適用范圍：適用于晶粒尺寸較大（通常大于 1

• 優(yōu)爾鴻信檢測|常見的IC檢測設(shè)備有哪些？

  以下是一些常見的 IC 檢測設(shè)備：自動測試設(shè)備（ATE）功能：可自動對 IC 進(jìn)行性能驗(yàn)證和故障診斷，能精確測量和評估芯片各項(xiàng)性能指標(biāo)，通過自動化測試流程大幅提高測試效率，支持多種測試模式和程序以滿足不同測試需求，并采用先進(jìn)故障診斷和隔離技術(shù)確保測試結(jié)果準(zhǔn)確可靠.應(yīng)用：廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體設(shè)計(jì)、制造、封裝等各個環(huán)節(jié)，如 SoC 測試機(jī)用于智能手機(jī)、平板電腦、數(shù)據(jù)中心等高端電子設(shè)備中的系統(tǒng)級芯片測試；存