面向具體應(yīng)用如何選擇光學(xué)測量儀器（二）

時間：2022-02-04作者：似空科學(xué)儀器（上海）有限公司瀏覽：248

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  詞條說明

• 影像自動對焦:真正決定對焦精度的因素

  ?自動對焦精度是光學(xué)測量中常被誤解的話題之一，而且有充分的理由是它確實(shí)非常復(fù)雜。在這篇文章中，我們將看看影像自動對焦是如何工作的，以及是什么決定了它的準(zhǔn)確性。好的焦距對于光學(xué)測量是至關(guān)重要的。因?yàn)闇y量的是一個零件的圖像，而不是零件本身，所以好的焦距對于好的結(jié)果是至關(guān)重要的。?首先，讓我們看看光學(xué)聚焦是如何工作的。要理解焦點(diǎn)，先從我們都很熟悉的光學(xué)系統(tǒng)開始——人的眼睛。 

• 一分鐘帶您了解顯微鏡的發(fā)展歷史

  ? ? ? ?從遠(yuǎn)古時代，人們就渴望看到更多肉眼看不到的事物。盡管沒有人知道是誰**次使用透鏡來觀察事物，大多數(shù)認(rèn)為透鏡的使用肯定是現(xiàn)代社會發(fā)展起來以后才發(fā)生的。然而，令人驚訝的是，2000多年以前就有人曾經(jīng)用玻璃來折射光的角度。公元前2世紀(jì)，克勞迪思·托勒密發(fā)現(xiàn)一根木棍放在水里會變彎，并且非常精確地記判斷它的“彎曲”角度不會**過0.5度。然后，他又計(jì)算出了

• 影像測量儀如何測量高度

  **種方法接觸式測量，對于比較粗糙的，測量精度是毫米級別的零件并且不需要全尺寸檢測只需抽檢，我們可以采取傳統(tǒng)的測量儀器游標(biāo)卡尺直接測量高度。這樣可以快速測量，雖測量精度不高，卻能夠滿足測量需求。*二種方法接觸式測量，對于測量的精度非常的高的零件，我們可以選擇一臺可增加探針的影像測量儀，這就相當(dāng)于一臺小的三坐標(biāo)測量儀，也就是我們說的復(fù)合式影像測量儀，在需要測量高度的地方，用探針取元素（點(diǎn)或者面），然

• 芯片分析方法

  芯片分析方法1.OM 光學(xué)顯微鏡觀察，外型分析2.C-SAM（**音波掃描顯微鏡）（1）原材料里面的晶格常數(shù)構(gòu)造，殘?jiān)w粒物，參雜物，沉淀，（2） 內(nèi)部裂痕。 （3）分層次缺陷。（4）裂縫，汽泡，間隙等。3. X－Ray 檢驗(yàn)IC封裝中的各種各樣缺陷如層脫離、崩裂、裂縫及其打線的一致性，PCB工藝中也許出現(xiàn)的缺陷如兩端對齊欠佳或中繼，**、短路故障或異常聯(lián)接的缺陷，封裝形式中的錫球一致性。（這幾類是