ISO16232檢測(cè)

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  詞條說(shuō)明

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  HAST高加速老化測(cè)試：電子產(chǎn)品的"時(shí)間加速器"在電子產(chǎn)品研發(fā)領(lǐng)域，時(shí)間是最昂貴的成本之一。傳統(tǒng)老化測(cè)試需要數(shù)月甚至數(shù)年才能驗(yàn)證產(chǎn)品可靠性，而HAST高加速老化測(cè)試技術(shù)將這一過(guò)程縮短到幾天或幾周。這種測(cè)試方法通過(guò)極端溫濕度條件加速材料老化，成為現(xiàn)代電子制造業(yè)*的質(zhì)量驗(yàn)證手段。HAST測(cè)試的核心在于模擬高溫高濕環(huán)境對(duì)電子元件的影響。測(cè)試箱內(nèi)溫度可達(dá)130℃以上，相對(duì)濕度保持在85%至100%