深圳國(guó)產(chǎn)黃金檢測(cè)儀在校準(zhǔn)過(guò)程中需要注意的問(wèn)題

時(shí)間：2023-05-15作者：江蘇一六儀器有限公司瀏覽：95

江蘇一六儀器有限公司專注于能量色散X熒光光譜儀,標(biāo)準(zhǔn)片,光譜儀測(cè)厚儀等

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• X熒光光譜儀兩種分類介紹

  隨著科學(xué)技術(shù)的進(jìn)步，在60年代初發(fā)明了半導(dǎo)體探測(cè)器以后，對(duì)X-熒光進(jìn)行能譜分析成了可能。能譜色散型X熒光光譜儀(ED-XRF)，用X射線管產(chǎn)生原級(jí)X射線照射到樣品上，所產(chǎn)生的特征X射線(熒光)直接進(jìn)入半導(dǎo)體探測(cè)器，便可以據(jù)此進(jìn)行定性分析和定量分析。接下來(lái)和一六儀器了解X熒光光譜儀兩種分類介紹。X-射線熒光光譜儀(XRF)是一種較新型可以對(duì)多元素進(jìn)行快速同時(shí)測(cè)定的儀器。在X射線激發(fā)下，被測(cè)元素原子的

• 鍍層測(cè)厚儀品牌儀器維護(hù)方案

  鍍層測(cè)厚儀作為一種科技工業(yè)檢測(cè)設(shè)備，所發(fā)揮的性能效用有著相當(dāng)出色的使用**，善時(shí)儀器的鍍層厚度測(cè)量?jī)x在這兩年的時(shí)間當(dāng)中，較是獲得了不同領(lǐng)域商戶的采納。希望通過(guò)上面的簡(jiǎn)單介紹，能夠幫助大家全面、深入的掌握更多關(guān)于鍍層測(cè)厚儀品牌儀器維護(hù)方案。鍍層測(cè)厚儀品牌儀器維護(hù)方案如下：一、檢修或者維修時(shí)注意關(guān)閉電源和電腦當(dāng)我們的鍍層測(cè)厚儀在線上檢修或者暫時(shí)不用于生產(chǎn)任務(wù)時(shí)，我們就要及時(shí)關(guān)閉測(cè)厚儀的掃描電源以及電腦

• 多導(dǎo)毛細(xì)聚焦技術(shù)在IC載板和引線框架鍍層測(cè)厚及成分分析檢測(cè)中有哪些優(yōu)勢(shì)

  隨著電子技術(shù)的飛速發(fā)展，集成電路（Integrated Circuits，IC）的封裝工藝也在不斷演進(jìn)，為了確保IC載板和引線框架的性能和可靠性，鍍層測(cè)厚及成分分析成為了至關(guān)重要的環(huán)節(jié)。在這個(gè)背景下，多導(dǎo)毛細(xì)聚焦技術(shù)正嶄露頭角，以其優(yōu)勢(shì)在IC載板和引線框架鍍層測(cè)厚及成分分析中展現(xiàn)出巨大潛力。?多導(dǎo)毛細(xì)聚焦技術(shù)是一種**的分析方法，主要利用X射線全反射原理，從X射線管激發(fā)出來(lái)的X射線束在毛

• XTD系列鍍層測(cè)厚儀性能優(yōu)勢(shì)和故障處理

  XTD系列鍍層測(cè)厚儀，適用于各種**大異形件及微小密集 型多點(diǎn)測(cè)試，如五金類模具、衛(wèi)浴產(chǎn)品、線路板以及高精密密集電子元器件表面處理的成分和厚度分析。接下里和一六儀器一起了解一下XTD系列鍍層測(cè)厚儀性能優(yōu)勢(shì)和故障處理。XTD系列鍍層測(cè)厚儀性能優(yōu)勢(shì)：**的EFP算法 ：多層多元素、各種元素及**物，甚至有同種元素在不同層也可精準(zhǔn)測(cè)量;上照式設(shè)計(jì) ：實(shí)現(xiàn)可對(duì)**大工件進(jìn)行快、準(zhǔn)、穩(wěn)高效率測(cè)量;自動(dòng)對(duì)焦 ：高