多導(dǎo)毛細(xì)聚焦技術(shù)在IC載板和引線框架鍍層測厚及成分分析檢測中有哪些優(yōu)勢

時間：2023-08-21作者：江蘇一六儀器有限公司瀏覽：116

江蘇一六儀器有限公司專注于能量色散X熒光光譜儀,標(biāo)準(zhǔn)片,光譜儀測厚儀等

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• X熒光光譜儀兩種分類介紹

  隨著科學(xué)技術(shù)的進(jìn)步，在60年代初發(fā)明了半導(dǎo)體探測器以后，對X-熒光進(jìn)行能譜分析成了可能。能譜色散型X熒光光譜儀(ED-XRF)，用X射線管產(chǎn)生原級X射線照射到樣品上，所產(chǎn)生的特征X射線(熒光)直接進(jìn)入半導(dǎo)體探測器，便可以據(jù)此進(jìn)行定性分析和定量分析。接下來和一六儀器了解X熒光光譜儀兩種分類介紹。X-射線熒光光譜儀(XRF)是一種較新型可以對多元素進(jìn)行快速同時測定的儀器。在X射線激發(fā)下，被測元素原子的

• 膜厚測量儀把控產(chǎn)品質(zhì)量細(xì)節(jié)

  臺式的熒光X射線膜厚測試儀，是通過一次X射線穿透金屬元素樣品時·產(chǎn)生低能量的光子，俗稱為二次熒光，在通過計算二次熒光的能量來計算厚度值。那么它是如何把控產(chǎn)品質(zhì)量細(xì)節(jié)的?接下來和一六儀器儀器了解膜厚測量儀把控產(chǎn)品質(zhì)量細(xì)節(jié)注意事項。膜厚測試儀測量時需要注意的事項:1、首先大家在用測量儀進(jìn)行測試使用時，要選用與試件相似的金屬磁性標(biāo)準(zhǔn)片來進(jìn)行測量，不要選擇差別或者區(qū)分過大的標(biāo)準(zhǔn)片來試驗測量，不然會導(dǎo)致很大

• 如何選擇適合的鍍層測厚儀？關(guān)鍵要點一覽

  在現(xiàn)代制造業(yè)中，鍍層測厚儀是一項重要的工具，它可以幫助我們準(zhǔn)確地評估金屬表面上的鍍層厚度，以確保產(chǎn)品的質(zhì)量和性能。然而，在選擇合適的鍍層測厚儀時，我們需要考慮多個關(guān)鍵要點，以確保我們的選擇滿足實際需求并獲得準(zhǔn)確的測量結(jié)果。?1. 測量范圍和精度：首先，你需要明確你所需測量的鍍層厚度范圍，并選擇一個測量范圍適當(dāng)且精度足夠高的儀器。精度對于一些要求嚴(yán)格的應(yīng)用非常重要，因此儀器的精度要符合你的

• 一六儀器教你如何正確選擇臺式膜厚測量儀

  隨著市場上各種光譜儀、膜厚儀品牌越來越多，讓很多人在選購時也是眼花繚亂，不知道如何選擇。接下來和一六儀器儀器了解如何正確選擇臺式膜厚測量儀。選擇臺式膜厚測量儀時需要考慮以下幾個方面：范圍和精度：首先要根據(jù)所需測量的膜厚范圍和精度來選擇合適的測量儀器。在選擇時需要注意，所選儀器的量程范圍應(yīng)該能夠滿足實際需要，并且精度要求要和實際應(yīng)用場景相匹配。探頭類型：不同類型的探頭有著不同的特點。如磁感應(yīng)式探頭適