詞條
詞條說(shuō)明
測(cè)量相機(jī)對(duì)數(shù)字模擬信號(hào)的處理 (一)
?影像測(cè)量相機(jī)的術(shù)語(yǔ)很多,比如模擬和數(shù)字信號(hào)可能是相當(dāng)令人困惑,目前大多數(shù)用于影像測(cè)量的“模擬”相機(jī)是數(shù)字的,而且大多數(shù)數(shù)碼相機(jī)至少部分是模擬的。那么我們?nèi)绾卫斫膺@一切呢??所有的攝像機(jī)都使用一個(gè)由像素組成的傳感器——單個(gè)的光傳感器——輸出一分鐘的電信號(hào),它與它們所感知到的光量成比例。這本質(zhì)上是一個(gè)模擬過(guò)程——相機(jī)的電子部件在處理每個(gè)像素的電脈沖時(shí),就發(fā)生了“數(shù)字”轉(zhuǎn)換。大多數(shù)
全新上市!Makrolite 4K超高清數(shù)碼觀測(cè)顯微鏡
Vision Engineering數(shù)碼顯微鏡家族迎來(lái)了又一款全新產(chǎn)品:Makrolite 4K**高清數(shù)碼觀測(cè)顯微鏡? ? ? 4K **高清? ? ? 觀察、放大和測(cè)量Makrolite 4K提供觀測(cè)、放大觀察、測(cè)量和捕捉4K分辨率高清圖像,并擁有20:1的光學(xué)變倍比。放大倍率3x 至330x。帶來(lái)優(yōu)秀的圖像質(zhì)量,顯示目標(biāo)物較精細(xì)的細(xì)節(jié)并
芯片分析方法1.OM 光學(xué)顯微鏡觀察,外型分析2.C-SAM(**音波掃描顯微鏡)(1)原材料里面的晶格常數(shù)構(gòu)造,殘?jiān)w粒物,參雜物,沉淀,(2) 內(nèi)部裂痕。 (3)分層次缺陷。(4)裂縫,汽泡,間隙等。3. X-Ray 檢驗(yàn)IC封裝中的各種各樣缺陷如層脫離、崩裂、裂縫及其打線的一致性,PCB工藝中也許出現(xiàn)的缺陷如兩端對(duì)齊欠佳或中繼,**、短路故障或異常聯(lián)接的缺陷,封裝形式中的錫球一致性。(這幾類(lèi)是
研磨與拋光材料的分類(lèi)1、棕剛玉粗磨石,各類(lèi)形狀包括:正三角、斜三角、斜圓柱、正圓柱、園珠型(石質(zhì)硬用于粗磨除毛刺、披鋒、氧化皮有切削力但痕跡比較粗糙)。2、塑膠石,各類(lèi)形狀包括:圓錐形、子彈頭、四面體、金字塔、不定形(膠質(zhì)比較軟用于中磨又稱幼磨除毛刺、披鋒、氧化皮,可修復(fù)無(wú)深度的切削痕跡和工件本身殘留的痕跡,切削痕跡比較均勻細(xì)膩)。3、高鋁瓷、高頻瓷系列,形狀:正三角、斜三角、斜圓柱、正圓柱園珠型
公司名: 似空科學(xué)儀器(上海)有限公司
聯(lián)系人: 張經(jīng)理
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