TVM視頻測(cè)量系統(tǒng)——回顧來(lái)自客戶的5個(gè)重要提問(wèn)

時(shí)間：2022-08-26作者：似空科學(xué)儀器（上海）有限公司瀏覽：225

似空科學(xué)儀器（上海）有限公司專注于無(wú)損檢測(cè)設(shè)備,芯片開(kāi)封機(jī),影像測(cè)量?jī)x,研磨拋光設(shè)備等

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 面向具體應(yīng)用如何選擇光學(xué)測(cè)量?jī)x器(一)

  視頻測(cè)量顯微鏡和比較儀是傳統(tǒng)的測(cè)量?jī)x器，而光學(xué)測(cè)量?jī)x作為他們的升級(jí)版功能較加強(qiáng)大，因?yàn)樗鼈兡軌颢@得快速和準(zhǔn)確的非接觸測(cè)量。在現(xiàn)代制造業(yè)中的應(yīng)用很普遍。在選擇測(cè)量系統(tǒng)時(shí)，有很多因素要考慮，包括是否購(gòu)買一個(gè)傳統(tǒng)的視頻測(cè)量顯微鏡，比較儀，或光學(xué)測(cè)量?jī)x或是否需要一個(gè)能提供大視野的系統(tǒng)。本技術(shù)報(bào)告將解釋選擇系統(tǒng)時(shí)需要考慮的特定光學(xué)特性。影響測(cè)量性能的因素和光學(xué)特性很多。以下是在選擇測(cè)量系統(tǒng)之前應(yīng)該考慮的幾個(gè)

• 大視場(chǎng)測(cè)量準(zhǔn)確性的影像因素分析

  ?大視場(chǎng)系統(tǒng)的重要考慮的是，大視場(chǎng)和大焦距并不能保證光學(xué)系統(tǒng)產(chǎn)生遠(yuǎn)心像。?例如，人眼具有非常大的聚焦深度;然而，將手指放在手臂長(zhǎng)度處，然后將它移到較靠近眼睛的地方，會(huì)讓你的手指看起來(lái)變大。失真通常也表現(xiàn)為圖像的球形“不成形”，人眼很難檢測(cè)到，但對(duì)測(cè)量精度非常有害。光學(xué)系統(tǒng)所需要的鏡頭來(lái)創(chuàng)造一個(gè)真正的遠(yuǎn)心圖像是復(fù)雜的，并且在它們產(chǎn)生的遠(yuǎn)心程度上是不同的。?除此之外，在使

• 電子元器件失效了怎么分析? 如何找到失效原因?

  器件一旦壞掉，千萬(wàn)別避而遠(yuǎn)之，而應(yīng)當(dāng)如獲至寶。駕車的人都了解，哪兒較能練就安全駕駛水準(zhǔn)？高速路不好，僅有鬧市區(qū)和欠佳實(shí)時(shí)路況才可以提升水準(zhǔn)。社會(huì)發(fā)展的進(jìn)步便是一個(gè)發(fā)現(xiàn)問(wèn)題解決困難的全過(guò)程，發(fā)生問(wèn)題不恐怖，但經(jīng)常發(fā)生同一類問(wèn)題是十分恐怖的。失效分析基本要素界定：對(duì)無(wú)效電子器件元器件開(kāi)展確診全過(guò)程。1、開(kāi)展失效分析通常必須開(kāi)展電測(cè)量并選用專業(yè)的物理學(xué)、冶金工業(yè)及**化學(xué)的剖析方式。2、失效分析的效果是

• 芯片分析方法

  芯片分析方法1.OM 光學(xué)顯微鏡觀察，外型分析2.C-SAM（**音波掃描顯微鏡）（1）原材料里面的晶格常數(shù)構(gòu)造，殘?jiān)w粒物，參雜物，沉淀，（2） 內(nèi)部裂痕。 （3）分層次缺陷。（4）裂縫，汽泡，間隙等。3. X－Ray 檢驗(yàn)IC封裝中的各種各樣缺陷如層脫離、崩裂、裂縫及其打線的一致性，PCB工藝中也許出現(xiàn)的缺陷如兩端對(duì)齊欠佳或中繼，**、短路故障或異常聯(lián)接的缺陷，封裝形式中的錫球一致性。（這幾類是