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I3C CTS (Conformance Testing Suite)一致性測試套件 如何測試 I3C 器件的互作性或一致性測試?
I3C協(xié)議勢頭強(qiáng)勁,將成為汽車、數(shù)據(jù)和許多其他應(yīng)用的主流技術(shù)。市場上出貨的 I3C 接口半導(dǎo)體數(shù)量在過去 3 年中增長了 3 倍,預(yù)計(jì)未來十年增長將翻一番。隨著具有 I3C 接口的半導(dǎo)體芯片的增長,傳感器和 eeprom 等設(shè)備也需要支持或遷移到 I3C 協(xié)議。遷移到I3C 接口將使設(shè)備能夠發(fā)送較高的性能以及較好的控制和配置。以下是遷移到 I3C 接口的一些主要優(yōu)勢·??&nb
如何使用Prodigy邏輯分析儀 在 clock stretching 上實(shí)現(xiàn) pulse width 觸發(fā)
如何使用Prodigy邏輯分析儀 在 clock stretching 上實(shí)現(xiàn) pulse width 觸發(fā)概述在嵌入式系統(tǒng)領(lǐng)域,I2C(內(nèi)部集成電路)是一種廣泛使用的通信協(xié)議,使設(shè)備能夠在短距離內(nèi)相互通信。I2C 通信的一個(gè)關(guān)鍵方面是 clock stretching,它允許較慢的器件通過保持較低的 clock line 來控制通信的速度。設(shè)計(jì)工程師面臨的挑戰(zhàn)之一是在總線中連接多個(gè) I2C 時(shí)監(jiān)
100G 802.3-2015 BERT和分析儀技術(shù)資料
100G 802.3-2015 BERT和分析儀(PGY-100G-802.3_2015)產(chǎn)品功能PGY-100G-802.3_2015 BERT和分析儀是設(shè)計(jì)和測試工程師通過將PGY-100G配置為具有錯(cuò)誤注入和糾錯(cuò)能力的100G 802.3流量生成器來測試100G以太網(wǎng)接口的BER的儀器。驗(yàn)證接口的整體性能。主要特征l? 完全符合 IEEE802.3bm – 2015 標(biāo)準(zhǔn)l&nbs
示波器測試與協(xié)議分析儀測試是電子通信領(lǐng)域中兩種互補(bǔ)但**目標(biāo)差異顯著的測試手段,主要區(qū)別體現(xiàn)在測試對象、**功能、關(guān)注重點(diǎn)、應(yīng)用場景等多個(gè)維度。以下從具體維度詳細(xì)對比:一、測試對象不同示波器:聚焦于物理層的電信號(或光信號的電轉(zhuǎn)換信號),直接測量電壓、電流等物理量隨時(shí)間的變化。 例如:電路板上的脈沖信號、總線的差分電壓(如 USB 的 D+/- 信號)、射頻信號的波形等。協(xié)議分析儀:聚焦于協(xié)議層的
公司名: 深圳市歐奧電子科技有限公司
聯(lián)系人: 鄭陽燕
電 話: 19926571623
手 機(jī): 18588455974
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Prodigy UHS-II 協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,歐奧電子供應(yīng)可用于芯片測試驗(yàn)證
100BASE-T1汽車以太網(wǎng)協(xié)議分析儀
Prodigy I3C協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器 歐奧電子供應(yīng)用于芯片測試驗(yàn)證
Prodigy SD、eMMC AC/DC 測試儀, 歐奧電子OIOSYS供應(yīng)可用于芯片測試驗(yàn)證
Prodigy PGY-LA Multi I3C協(xié)議分析儀 邏輯分析儀
歐奧MS100材料電子納米器件掃描探針顯微鏡
歐奧一鍵式全自動(dòng)進(jìn)樣 納米MS100掃描探針顯微鏡適用半導(dǎo)體材料
歐奧原子級分辨率 納米MS100原子力顯微鏡/AFM適用納米器件
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