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使用 PGY-PCIeLP-SBA 對(duì) PCIe 接口進(jìn)行邊帶信號(hào)分析
芯片供應(yīng)商需要驗(yàn)證 DUT 不同狀態(tài)下邊帶信號(hào)的電氣時(shí)序測(cè)量,并查看長(zhǎng)期一致性。為了滿足這一要求,Prodigy Technovations 開發(fā)了?PCIe邊帶信號(hào)分析儀。它監(jiān)控這些信號(hào)并提供多周期運(yùn)行中測(cè)量的統(tǒng)計(jì)信息,以確保穩(wěn)定可靠的運(yùn)行。PGY-PCIeLP-SBA 包括 discovery 系列邏輯分析儀(掌上大小),帶有用于 REFCLK 的 PCIe 邊帶信號(hào)分析的定制邏輯、
I3C CTS (Conformance Testing Suite)一致性測(cè)試套件 如何測(cè)試 I3C 器件的互作性或一致性測(cè)試?
I3C協(xié)議勢(shì)頭強(qiáng)勁,將成為汽車、數(shù)據(jù)中心和許多其他應(yīng)用的主流技術(shù)。市場(chǎng)上出貨的 I3C 接口半導(dǎo)體數(shù)量在過去 3 年中增長(zhǎng)了 3 倍,預(yù)計(jì)未來(lái)十年增長(zhǎng)將翻一番。隨著具有 I3C 接口的半導(dǎo)體芯片的增長(zhǎng),傳感器和 eeprom 等設(shè)備也需要支持或遷移到 I3C 協(xié)議。遷移到I3C 接口將使設(shè)備能夠發(fā)送較高的性能以及較好的控制和配置。以下是遷移到 I3C 接口的一些主要優(yōu)勢(shì)·??&
I2C/SPI 鍛煉者器和協(xié)議分析器 I2C協(xié)議分析器和SPI協(xié)議分析器(PGGY-I2C / SPI-EX-PD)是具有多個(gè)功能的協(xié)議分析儀,用于在被測(cè)托管和設(shè)計(jì)之間捕獲和調(diào)試通信。 PGY-I2C/SPI-EX-PD 是良好的儀器,通過配置 PGY-I2C/SPI-EX-PD 作為主/奴隸、生成 I2C/SPI 流量和解碼 I2C/SPI 協(xié)議解碼數(shù)據(jù)包,使設(shè)計(jì)和測(cè)試工程師能夠測(cè)試各自的 I2
Prodigy宣布推出PCIe Gen5協(xié)議分析儀
總部位于印度班加羅爾的Prodigy Technovations 在2024 年7 月25 日 宣布推出其PGY-PCIeGen5-PA、PCIe Gen5 協(xié)議分析儀。這種**的解決方案使工程師能夠以高達(dá) 32GT/s 的速度無(wú)縫捕獲、解碼和分析 PCIe Gen5 流量,從而加速高速 PCIe 接口的開發(fā)和驗(yàn)證?!癙GY-PCIeGen5-PA?代表了 PCIe 協(xié)議分析的進(jìn)步,”P
公司名: 深圳市歐奧電子科技有限公司
聯(lián)系人: 鄭陽(yáng)燕
電 話: 19926571623
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Prodigy UHS-II 協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,歐奧電子供應(yīng)可用于芯片測(cè)試驗(yàn)證
100BASE-T1汽車以太網(wǎng)協(xié)議分析儀
Prodigy I3C協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器 歐奧電子供應(yīng)用于芯片測(cè)試驗(yàn)證
Prodigy SD、eMMC AC/DC 測(cè)試儀, 歐奧電子OIOSYS供應(yīng)可用于芯片測(cè)試驗(yàn)證
Prodigy PGY-LA Multi I3C協(xié)議分析儀 邏輯分析儀
歐奧MS100材料電子納米器件掃描探針顯微鏡
歐奧一鍵式全自動(dòng)進(jìn)樣 納米MS100掃描探針顯微鏡適用半導(dǎo)體材料
歐奧原子級(jí)分辨率 納米MS100原子力顯微鏡/AFM適用納米器件
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