Prodigy測(cè)試解決方案，適合 ASIC、SoC、AI 芯片等多種類型的芯片項(xiàng)目

時(shí)間：2025-07-03作者：深圳市歐奧電子科技有限公司瀏覽：242

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• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 調(diào)試eMMC啟動(dòng)失敗：使用 PGY-SSM 捕獲和分析啟動(dòng)數(shù)據(jù)

  嵌入式系統(tǒng)依靠其eMMC存儲(chǔ)中**的啟動(dòng)序列來(lái)加載固件并將控制權(quán)移交給應(yīng)用程序代碼。然而，錯(cuò)誤配置的分區(qū)、損壞的啟動(dòng)數(shù)據(jù)或意外的?eMMC?響應(yīng)可能會(huì)破壞此過(guò)程，導(dǎo)致難以使用標(biāo)準(zhǔn)工具診斷的靜默故障。 借助?PGY-SSM SD/SDIO/eMMC協(xié)議分析儀，您可以實(shí)時(shí)捕獲整個(gè)啟動(dòng)交互，準(zhǔn)確查明問(wèn)題所在，并可視化關(guān)鍵協(xié)議事件，而*中斷被測(cè)設(shè)備。為什么eMMC啟動(dòng)失敗難

• I3C CTS （Conformance Testing Suite）一致性測(cè)試套件 如何測(cè)試 I3C 器件的互作性或一致性測(cè)試？

  I3C協(xié)議勢(shì)頭強(qiáng)勁，將成為汽車、數(shù)據(jù)中心和許多其他應(yīng)用的主流技術(shù)。市場(chǎng)上出貨的 I3C 接口半導(dǎo)體數(shù)量在過(guò)去 3 年中增長(zhǎng)了 3 倍，預(yù)計(jì)未來(lái)十年增長(zhǎng)將翻一番。隨著具有 I3C 接口的半導(dǎo)體芯片的增長(zhǎng)，傳感器和 eeprom 等設(shè)備也需要支持或遷移到 I3C 協(xié)議。遷移到I3C 接口將使設(shè)備能夠發(fā)送更高的性能以及更好的控制和配置。以下是遷移到 I3C 接口的一些主要優(yōu)勢(shì)·??&

• UFS4.0協(xié)議分析儀產(chǎn)品功能詳解

  產(chǎn)品功能 UFS4.0協(xié)議分析儀(PGY-UFS4.0-PA)是一種具有多種功能，可捕獲和調(diào)試主機(jī)與被測(cè)設(shè)計(jì)(DUT)之間的通信的協(xié)議分析儀。UFS4.0協(xié)議分析儀是同類產(chǎn)品中基于值的分析儀，可捕獲和調(diào)試MPHY、UniPro 和UFS協(xié)議層的數(shù)據(jù)。它允許對(duì)UFS層、UniPro層和 MPHY層進(jìn)行即時(shí)解碼，并能靈活地在這些協(xié)議層之間關(guān)聯(lián)解碼數(shù)據(jù)。 UFS4.0協(xié)議分析儀是業(yè)內(nèi)一個(gè)可運(yùn)行并經(jīng)過(guò)測(cè)試

• 示波器測(cè)試與協(xié)議分析儀測(cè)試的區(qū)別

  示波器測(cè)試與協(xié)議分析儀測(cè)試是電子通信領(lǐng)域中兩種互補(bǔ)但核心目標(biāo)差異顯著的測(cè)試手段，主要區(qū)別體現(xiàn)在測(cè)試對(duì)象、核心功能、關(guān)注重點(diǎn)、應(yīng)用場(chǎng)景等多個(gè)維度。以下從具體維度詳細(xì)對(duì)比：一、測(cè)試對(duì)象不同示波器：聚焦于物理層的電信號(hào)（或光信號(hào)的電轉(zhuǎn)換信號(hào)），直接測(cè)量電壓、電流等物理量隨時(shí)間的變化。 例如：電路板上的脈沖信號(hào)、總線的差分電壓（如 USB 的 D+/- 信號(hào)）、射頻信號(hào)的波形等。協(xié)議分析儀：聚焦于協(xié)議層的