天瑞儀器xrf熒光光譜分析儀

時(shí)間：2024-09-10作者：江蘇天瑞儀器股份有限公司瀏覽：49

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• 詞條

  詞條說(shuō)明

• X射線熒光光譜儀常見有那幾種分類

  波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜采用晶體或人工擬晶體根據(jù)bragg定律將不同能量的譜線分開，然后進(jìn)行測(cè)量。波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜一般采用X射線管作激發(fā)源，可分為順序式(或稱單道式或掃描式)、同時(shí)式(或稱多道式)譜儀、和順序式與同時(shí)式相結(jié)合的譜儀三種類型。順序式通過(guò)掃描方法逐個(gè)測(cè)量元素，因此測(cè)量速度通常比同時(shí)式慢，適用于科研及多用途的工作。同時(shí)式則適用于相對(duì)固定組成，對(duì)測(cè)量速度要求高和批量試樣分析, 順序式與

• X射線熒光光譜儀的儀器類別及特點(diǎn)

  X射線熒光光譜儀一種射線式分析儀器,是X射線分析儀器的一種常用形式。X射線熒光光譜儀能分析原子序數(shù) 12～92的所有元素，選擇性高，分析微量組分時(shí)受基體的影響小，在地質(zhì)、采礦和冶金等部門應(yīng)用很廣。X射線熒光光譜儀：儀器儀表、成份分析儀器、熒光光度計(jì)。?指標(biāo)信息1、發(fā)射源是Rh靶X光管，最大電流125mA，電壓60kV，最大功率3kW。2、儀器在真空條件下工作，真空度<13pasca

• X熒光光譜鍍層測(cè)厚儀

  X熒光光譜鍍層測(cè)厚儀既滿足原有微小和復(fù)雜形態(tài)樣品的膜厚檢測(cè)功能,又可滿足有害元素檢測(cè)及輕元素成分分析,被廣泛應(yīng)用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來(lái)料檢驗(yàn)和對(duì)生產(chǎn)工藝控制的測(cè)量。X熒光光譜鍍層測(cè)厚儀配置01 獨(dú)立的X/Y/Z軸控制系統(tǒng)02 微焦斑X光管?03 可變高壓電源04 防撞板外加防撞激光保護(hù)檢測(cè)器對(duì)儀器進(jìn)行雙重安全保護(hù)05 Fast-SDD探測(cè)器06 雙激光定位裝置07 標(biāo)配可自動(dòng)切換的準(zhǔn)直

• rohs檢測(cè)儀有哪些性能

  RoHS檢測(cè)儀就是歐盟RoHS測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)的檢測(cè)儀器。簡(jiǎn)單的說(shuō)就是測(cè)試鉛Pb，鎘Cd，汞Hg，六價(jià)鉻Cr6+，多溴二苯醚PBDE，多溴聯(lián)苯PBB六種有害物質(zhì)的儀器。rohs檢測(cè)儀性能半導(dǎo)體硅片電制冷系統(tǒng)，摒棄液氮制冷自動(dòng)濾光片選擇多種準(zhǔn)直器自動(dòng)自由切換三重安全保護(hù)模式相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型多變量非線性回歸程序樣品腔自動(dòng)開關(guān)軟件定位樣品平臺(tái)，最小位移0.01mm自動(dòng)切換準(zhǔn)直器和濾光片，分別針對(duì)不同樣