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詞條說明
X熒光光譜鍍層測厚儀既滿足原有微小和復(fù)雜形態(tài)樣品的膜厚檢測功能,又可滿足有害元素檢測及輕元素成分分析,被廣泛應(yīng)用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗和對生產(chǎn)工藝控制的測量。X熒光光譜鍍層測厚儀配置01 獨立的X/Y/Z軸控制系統(tǒng)02 微焦斑X光管?03 可變高壓電源04 防撞板外加防撞激光保護檢測器對儀器進行雙重安全保護05 Fast-SDD探測器06 雙激光定位裝置07 標配可自動切換的準直
ROHS檢測儀就是X射線熒光光譜儀,分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理。X射線熒光光譜儀通常可分為兩大類,波長色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF),波長色散光譜儀主要部件包括激發(fā)源、分光晶體和測角儀、探測器等,而能量色散光譜儀則只需激發(fā)源和探測器和相關(guān)電子與控制部件,相對簡單。波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線,根據(jù)Bragg定律
波長色散X射線熒光光譜采用晶體或人工擬晶體根據(jù)bragg定律將不同能量的譜線分開,然后進行測量。波長色散X射線熒光光譜一般采用X射線管作激發(fā)源,可分為順序式(或稱單道式或掃描式)、同時式(或稱多道式)譜儀、和順序式與同時式相結(jié)合的譜儀三種類型。順序式通過掃描方法逐個測量元素,因此測量速度通常比同時式慢,適用于科研及多用途的工作。同時式則適用于相對固定組成,對測量速度要求高和批量試樣分析, 順序式與
RoHs是《電氣、電子設(shè)備中限制使用某些有害物質(zhì)指令》(the Restriction of the use of certain hazardous substances in electrical and electronic equipment)的英文縮寫。該標準將于2006年7月 1日開始正式實施,主要用于規(guī)范電子電氣產(chǎn)品的材料及工藝標準,使之更加有利于人體健康及環(huán)境保護。該標準的目的在于
公司名: 江蘇天瑞儀器股份有限公司
聯(lián)系人: 孫
電 話:
手 機: 13814856624
微 信: 13814856624
地 址: 江蘇蘇州昆山市*園西路1888號
郵 編:
網(wǎng) 址: jstryqgfyxgs.b2b168.com
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