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詞條說明
X射線熒光光譜儀(X-ray Fluorescence Spectrometer,簡稱:XRF光譜儀),是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測量方法。X射線熒光(X-ray fluorescence,XRF)是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發(fā)出的次級X射線。這種現(xiàn)象被廣泛用于元素分析和化學(xué)分析,特別是在金屬,玻璃,陶瓷和建材的調(diào)查和研究,地球化學(xué),法醫(yī)學(xué),考古學(xué)和藝術(shù)品,例如油畫和壁畫。 一種射線式
X射線熒光光譜儀另一方面,化學(xué)元素遭到高能光子或粒子的照耀,如內(nèi)層電子被激起,則當(dāng)外層電子躍遷時,就會放射出特征X射線。特征X射線是一種別離的不延續(xù)譜。假如激起光源為x射線,則受激發(fā)生的x射線稱為二次X射線或X射線熒光。特征x射線顯示了特征x射線光譜儀發(fā)生的進(jìn)程。當(dāng)人射x射線撞擊原子中的電子時,如光子能量大于原子中的電子約束能,電子就會被擊出。這一互相效果進(jìn)程被稱為光電效應(yīng),被打出的電子稱為光電子
RoHS檢測儀目前市場上常見的類型是X射線熒光分析儀,又分為能量色散型和波長色散型,能量色散型因其技術(shù)原理及結(jié)構(gòu)比波長色散型簡單,現(xiàn)市場上比較常見,其技術(shù)原理:特征X射線放射性同位素源或X射線發(fā)生器放出的X射線或「射線與樣品中元素的原子相互作用,逐出原子內(nèi)層電子。當(dāng)外層電子補(bǔ)充內(nèi)層電子時,會放射該原子所固有能量的X射線特征X射線。元素含量與特征X射線強(qiáng)度的關(guān)系不同元素特征X射線能量各不相同,依此進(jìn)
RoHs是《電氣、電子設(shè)備中限制使用某些有害物質(zhì)指令》(the Restriction of the use of certain hazardous substances in electrical and electronic equipment)的英文縮寫。該標(biāo)準(zhǔn)將于2006年7月 1日開始正式實(shí)施,主要用于規(guī)范電子電氣產(chǎn)品的材料及工藝標(biāo)準(zhǔn),使之更加有利于人體健康及環(huán)境保護(hù)。該標(biāo)準(zhǔn)的目的在于
公司名: 江蘇天瑞儀器股份有限公司
聯(lián)系人: 孫
電 話:
手 機(jī): 13814856624
微 信: 13814856624
地 址: 江蘇蘇州昆山市*園西路1888號
郵 編:
網(wǎng) 址: jstryqgfyxgs.b2b168.com
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