相控陣探傷儀FOCUS PX PC SDK

時(shí)間：2021-02-08作者：北京新興日祥科技發(fā)展有限公司北京分公司瀏覽：338

北京新興日祥科技發(fā)展有限公司北京分公司專注于工業(yè)內(nèi)窺鏡IPLEXNX,渦流探傷儀NORTEC600,相控陣探傷儀,探傷儀,超聲波測(cè)厚儀38DLPLUS,超聲波探傷儀OmniScanX3等, 歡迎致電 13121673808

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 超聲波測(cè)厚儀38DL PLUS應(yīng)用

  影響超聲波測(cè)厚儀示值的因素（1）工件表面粗糙度過(guò)大，造成探頭與接觸面耦合效果差，反射回波低，甚至無(wú)法接收到回波信號(hào)。對(duì)于表面銹蝕，耦合效果差的在役設(shè)備、管道等可通過(guò)砂、磨、挫等方法對(duì)表面進(jìn)行處理，降低粗糙度，同時(shí)也可以將氧化物及油漆層去掉，露出金屬光澤，使探頭與被檢物通過(guò)耦合，劑能達(dá)到很好的耦合效果。（2）工件曲率半徑太小，尤其是小徑管測(cè)厚時(shí)，因常用探頭表面為平面，與曲面接觸為點(diǎn)接觸或線接觸，聲

• 超聲波探傷儀

  超聲波探傷儀OmniScan X3信心滿滿，昭然可見(jiàn)OmniScan X3是一款功能齊備的相控陣工具箱。這款儀器所提供的性能強(qiáng)大的工具，如：全聚焦方式（TFM）圖像和高級(jí)成像功能，可使用戶加充滿信心地完成檢測(cè)。改進(jìn)的相控陣技術(shù)速度是OmniScan?MX2探傷儀的2倍（脈沖重復(fù)頻率）單獨(dú)的衍射時(shí)差（TOFD）菜單，加快了工作流程改進(jìn)的快速相控陣校準(zhǔn)，使用戶享有輕松的操作體驗(yàn)8

• 相控陣探傷儀

  相控陣探傷儀通過(guò)軟件可以單獨(dú)控制相控陣探頭中每個(gè)晶片的激發(fā)時(shí)間，從而控制產(chǎn)生波束的角度、聚焦位置和焦點(diǎn)尺寸。通過(guò)軟件可以單獨(dú)控制相控陣探頭中每個(gè)晶片的激發(fā)時(shí)間，從而控制產(chǎn)生波束的角度、聚焦位置和焦點(diǎn)尺寸。TOFD探傷儀,TOFD證書,測(cè)厚儀,粗糙度儀,硬度計(jì),紅外線測(cè)溫儀,紅外線熱像儀等儀表設(shè)備產(chǎn)品。常見(jiàn)的探頭陣列幾何外形如下：線形陣1.維線形陣2.維矩形陣圓形陣1.維環(huán)形陣2.維扇形陣技術(shù)優(yōu)勢(shì)1

• 工業(yè)內(nèi)窺鏡的優(yōu)點(diǎn)和用途

  工業(yè)內(nèi)窺鏡的實(shí)際操作操作方法十分的簡(jiǎn)易方便快捷，與此同時(shí)歸類也許多，客戶可以依據(jù)具體需要來(lái)實(shí)現(xiàn)挑選。工業(yè)內(nèi)窺鏡主要用途很普遍，下邊就詳細(xì)的介紹一下工業(yè)內(nèi)窺鏡的主要用途。 工業(yè)內(nèi)窺鏡可以增加大家的視角，根據(jù)它位置與方向內(nèi)部的詳細(xì)情況，用工業(yè)內(nèi)窺鏡可以查驗(yàn)零部件內(nèi)部的浸蝕、銹跡、裂痕等品質(zhì)缺點(diǎn)，工業(yè)內(nèi)窺鏡的便攜式、可移動(dòng)化，可以減少管理人員的工作強(qiáng)度、提高工作效率。 許多的設(shè)備必須定時(shí)的檢修檢驗(yàn)，工