ISTA 國(guó)際運(yùn)輸包裝檢測(cè)

時(shí)間：2020-08-25作者：深圳市訊科標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)服務(wù)有限公司瀏覽：509

深圳市訊科標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)服務(wù)有限公司專注于電容檢測(cè),第三方驗(yàn)貨檢測(cè),眼鏡檢測(cè),電路板檢測(cè),電器檢測(cè)中心,冷熱沖擊測(cè)試,紫外線老化測(cè)試,失效分析等

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 手機(jī)可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)新標(biāo)準(zhǔn)

  手機(jī)可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)/2019年新標(biāo)準(zhǔn)手機(jī)可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)：1、GB/T?2421-1999?電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)部分：總則2、GB/T?15844.2-1995?移動(dòng)通信調(diào)頻無(wú)線電話機(jī)環(huán)境要求和實(shí)驗(yàn)方法3、GB/T?15844.3-1995?移動(dòng)通信調(diào)頻無(wú)線電話機(jī)可靠性要求及實(shí)驗(yàn)方法4、GB/T?2423.1-2001&nbs

• UV老化測(cè)試檢測(cè)機(jī)構(gòu)

  UV老化測(cè)試項(xiàng)目是指模擬產(chǎn)品在現(xiàn)實(shí)使用條件中涉及到的各種因素對(duì)產(chǎn)品產(chǎn)生老化的情況進(jìn)行相應(yīng)條件加強(qiáng)實(shí)驗(yàn)的過(guò)程，主要適用于非金屬材料的耐陽(yáng)光和人工光源的老化試驗(yàn)。試驗(yàn)?zāi)M陽(yáng)光、潮濕和溫度對(duì)材料的破壞作用；材料老化包括褪色、失光、強(qiáng)度降低、開(kāi)裂、剝落、粉化和氧化等。紫外光老化試驗(yàn)箱通過(guò)模擬陽(yáng)光、冷凝、模仿自然潮濕，樣品在模擬的太陽(yáng)紫外光環(huán)境中試驗(yàn)數(shù)十小時(shí)甚至幾天的時(shí)間，可再現(xiàn)戶外可能幾個(gè)月或幾年發(fā)生的損

• 家用電器檢測(cè)的標(biāo)準(zhǔn)又哪些

  家用電器類產(chǎn)品家用電器類產(chǎn)品咨詢時(shí)，需要符合產(chǎn)品安全（Safety）、電磁兼容（EMC）及EMF等相關(guān)法規(guī)的要求。電熱類產(chǎn)品對(duì)于溫度與*均相當(dāng)重要，馬達(dá)類產(chǎn)品則對(duì)絕緣及機(jī)械傷害需特別的考量。EMC方面，若產(chǎn)品單純?yōu)榧訜嵩c電機(jī)所組成，基本上并無(wú)太多的EMC考量，一次通過(guò)的機(jī)率很大，若有不符合的情況，解決方法亦不會(huì)太復(fù)雜。EMF電磁場(chǎng)對(duì)人體的輻射：此項(xiàng)要求用來(lái)評(píng)估家用電器在正常使用過(guò)程中對(duì)使用者

• 失效分析

  產(chǎn)品范圍材料、元件、半導(dǎo)體分立器件、集成電路、 模塊等。?技術(shù)能力?電學(xué)分析：半導(dǎo)體參數(shù)分析儀、功率器件分析儀、耐壓測(cè)試儀等。??損分析：X-RAY、C-SAM、顆粒碰撞噪聲測(cè)試系統(tǒng)、粗/細(xì)檢漏系統(tǒng)等。?顯微形貌分析：光學(xué)顯微鏡、掃描電子顯微鏡。?學(xué)性能分析：拉力剪切儀、靜態(tài)力學(xué)試驗(yàn)機(jī)、動(dòng)態(tài)力學(xué)試驗(yàn)機(jī)等。?制樣技術(shù)：噴射腐蝕開(kāi)封機(jī)、反應(yīng)離子刻蝕機(jī)、金相研磨系統(tǒng)等。ESD/Lat