詞條
詞條說明
電子器件是一個非常復雜的系統(tǒng),其封裝過程的缺陷和失效也是非常復雜的。因此,研究封裝缺陷和失效需要對封裝過程有一個系統(tǒng)性的了解,這樣才能從多個角度去分析缺陷產(chǎn)生的原因。?封裝的失效機理可以分為兩類:過應力和磨損。過應力失效往往是瞬時的、災難性的;磨損失效是長期的累積損壞,往往首先表示為性能退化,接著才是器件失效。失效的負載類型又可以分為機械、熱、電氣、輻射和化學負載等。?影響封裝
箱包測試?虹彩檢測可以進行一系列的箱包的物理性能和化學環(huán)保測試,幫助您的產(chǎn)品突破環(huán)保和技術貿(mào)易的壁壘,確保您的產(chǎn)品出口安全。?靜載測試模擬在高負載承重情況下的箱包,當靜止懸空時,測試箱包的拉手或肩帶的強度。我們可以根據(jù)市場上的要求或者客戶的要求進行測試。?滾輪/拉手測試模擬箱包在正常負載時,滾輪,拉手的強度和耐久性。?跌落測試模擬箱包在正常情況下在一定高度下
IP防護等級多以P后跟隨的兩個數(shù)字來表述,數(shù)字用來明確防護的等級。位數(shù)字表明設備抗微塵的范圍,或者是人們在密封環(huán)境中免受危害的程度。代表防止固體異物進入的等級,**別是6;*二位數(shù)字表明設備防水的程度。代表防止進水的等級,**別是8。IP防水測試方法防水測試包括*二位特征數(shù)字為1至8,即防護等級代碼為IPX1至IPX8。(1)PX1方法名稱:垂直滴水試驗試驗設備:滴水試驗裝置試樣放置:按試樣正常工
可靠性測試 環(huán)境可靠性試驗 High Temp. Storage Test (HTST) 高溫貯存試驗 Low Temp. Storage Test (LTST) 低溫貯存試驗 Temp./Humidity Storage Test (THST) 溫濕度貯存試驗 Temp./Humidity Bias Test (THB) 溫濕度偏壓試驗 Temp./Humidity Cycle Test (TH
公司名: 深圳市訊科標準技術服務有限公司
聯(lián)系人: 蔡工
電 話: 13378656621
手 機: 13378656621
微 信: 13378656621
地 址: 廣東深圳寶安區(qū)航城街道九圍社區(qū)洲石路723號強榮東工業(yè)區(qū)E2棟二樓
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