無(wú)損檢測(cè)原理與發(fā)展

時(shí)間：2020-12-28作者：深圳市訊科標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)服務(wù)有限公司瀏覽：438

深圳市訊科標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)服務(wù)有限公司專注于無(wú)損探傷檢測(cè),材料檢測(cè)中心,UV老化測(cè)試,硬度檢測(cè)等

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• UV老化測(cè)試有哪些內(nèi)容

  對(duì)應(yīng)法規(guī)：GB/T 14522-93;GB/T 16422.3-1997;GB/T 16585-96; ASTCNAS認(rèn)可項(xiàng)目：是UV老化測(cè)試UV老化測(cè)試項(xiàng)目是指模擬產(chǎn)品在現(xiàn)實(shí)使用條件中涉及到的各種因素對(duì)產(chǎn)品產(chǎn)生老化的情況進(jìn)行相應(yīng)條件加強(qiáng)實(shí)驗(yàn)的過程，主要適用于非金屬材料的耐陽(yáng)光和人工光源的老化試驗(yàn)。試驗(yàn)?zāi)M陽(yáng)光、潮濕和溫度對(duì)材料的破壞作用;材料老化包括褪色、失光、強(qiáng)度降低、開裂、剝落、粉化和氧化等

• 無(wú)損探傷檢測(cè)

  NDT （Non-destructive testing），就是利用聲、光、磁和電等特性，在不損害或不影響被檢對(duì)象使用性能的前提下，檢測(cè)被檢對(duì)象中是否存在缺陷或不均勻性，給出缺陷的大小、位置、性質(zhì)和數(shù)量等信息，進(jìn)而判定被檢對(duì)象所處技術(shù)狀態(tài)（如合格與否、剩余壽命等）的所有技術(shù)手段的總稱NDT 是指對(duì)材料或工件實(shí)施一種不損害或不影響其未來(lái)使用性能或用途的檢測(cè)手段。? 用途通過使用 NDT，能

• 常見紫外UV老化試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)

  常見紫外老化試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)陽(yáng)光中紫外線是照成產(chǎn)品光降解和光老化的主要原因，因此新產(chǎn)品和新材料的選擇必須進(jìn)行產(chǎn)品的耐候性能測(cè)試。紫外線老化測(cè)試是評(píng)估新產(chǎn)品耐紫外線光照性能的一類測(cè)試方法，通常是在實(shí)驗(yàn)室中通過紫外加速老化試驗(yàn)箱進(jìn)行測(cè)試。需要進(jìn)行耐紫外線老化測(cè)試的產(chǎn)品以及材料主要有：非金屬材料、**材料（例如：涂料、油漆、染料、布料、印刷包裝、粘合劑、汽摩行業(yè)零件、化妝品、金屬、電子、電鍍、橡膠、塑膠及其制品

• 半導(dǎo)體材料檢測(cè)中心

  ? ? ? ?半導(dǎo)體材料（semiconductor material）是一類具有半導(dǎo)體性能（導(dǎo)電能力介于導(dǎo)體與絕緣體之間，電阻率約在1mΩ·cm～1GΩ·cm范圍內(nèi)）、可用來(lái)制作半導(dǎo)體器件和集成電路的電子材料。自然界的物質(zhì)、材料按導(dǎo)電能力大小可分為導(dǎo)體、半導(dǎo)體和絕緣體三大類。半導(dǎo)體的電阻率在1mΩ·cm～1GΩ·cm范圍（上限按謝嘉奎《電子線路》取值，還有