開(kāi)關(guān)電源之地相關(guān)（二）

時(shí)間：2021-06-10作者：東莞市成良智能科技有限公司瀏覽：112

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• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 簡(jiǎn)述開(kāi)關(guān)電源電磁干擾的產(chǎn)生原理及控制技術(shù)（四）

  雜散參數(shù)影響耦合通道的特性 在傳導(dǎo)干擾頻段，大多數(shù)的開(kāi)關(guān)電源干擾的耦合通道是可以通過(guò)電路網(wǎng)絡(luò)來(lái)描述的。但是，開(kāi)關(guān)電源當(dāng)中的任何一個(gè)實(shí)際元器件，比如電阻、電容、電感甚至是開(kāi)關(guān)管、二極管中都包含有雜散參數(shù)，而且研究的頻帶愈寬，等值電路的階次就會(huì)愈高。所以，包括了各個(gè)元器件雜散參數(shù)以及元器件之間的耦合在內(nèi)的開(kāi)關(guān)電源的等效電路要復(fù)雜很多。在高頻的時(shí)候，雜散參數(shù)對(duì)于耦合通道的特性影響非常大，分布電容的存在成

• 開(kāi)關(guān)電源的電感損壞原因

  開(kāi)關(guān)電源中輸出電感被燒毀的原因 （1）電感和開(kāi)關(guān)電源輸出功率不匹配。線(xiàn)圈直流電阻較大，導(dǎo)致了滿(mǎn)負(fù)荷或者是**負(fù)荷輸出的時(shí)候，線(xiàn)圈的溫度會(huì)持續(xù)升高直到燒毀。這種原因的可能性有但是并不是很大。 （2）開(kāi)關(guān)電源在長(zhǎng)時(shí)間的**負(fù)荷運(yùn)行。這將會(huì)導(dǎo)致電感的線(xiàn)圈電阻的損耗(直流)以及磁芯渦流的損耗(交流)加重，這兩種損耗都變成了熱能，讓開(kāi)關(guān)電源電感的溫度快速升高直到燒壞。一般的開(kāi)關(guān)電源**負(fù)荷50%(也就是額定輸出功

• 關(guān)于開(kāi)關(guān)電源的通用電壓（二）

  2、開(kāi)關(guān)電源外加限流保護(hù) 從開(kāi)關(guān)電源電壓模式的工作原理可以看出來(lái)，這個(gè)系統(tǒng)并沒(méi)有內(nèi)置限流功能的保護(hù)電路。與此同時(shí)，系統(tǒng)對(duì)于輸入以及輸出的瞬態(tài)變化響應(yīng)較為緩慢。當(dāng)輸入電壓突然降低或者是負(fù)載阻抗突然降低的時(shí)候，因?yàn)橹麟娐份敵鲭娙菀约半姼斜容^大，電容與電感具有移相延遲的效應(yīng)，輸出電壓的降低也會(huì)延遲。開(kāi)關(guān)電源輸出電壓低的信號(hào)通過(guò)電壓誤差放大器補(bǔ)償電路的延時(shí)延時(shí)傳輸?shù)絇WM比較器，從而使開(kāi)關(guān)電源脈沖寬度變寬

• 開(kāi)關(guān)電源的半導(dǎo)體應(yīng)力測(cè)試

  （2）開(kāi)關(guān)電源模擬系統(tǒng)上所運(yùn)行的情況測(cè)試下，在系統(tǒng)上，當(dāng)模塊是處于浮充的狀態(tài)，監(jiān)控讓模塊變?yōu)榫?，這時(shí)候因?yàn)殚_(kāi)關(guān)電源模塊電壓上升的速度不一致，導(dǎo)致了電壓上升較快的模塊瞬間承受了過(guò)高的功率，同時(shí)模塊又沒(méi)辦法短路回縮（開(kāi)關(guān)電源電壓**短路回縮點(diǎn)），這是開(kāi)關(guān)電源模塊的應(yīng)力比較大，可能會(huì)導(dǎo)致器件應(yīng)力**標(biāo)。具體的模擬方法是：如測(cè)試25A（或者是50A模塊）的時(shí)候，用100A的模塊以及25A模塊（或者是50A