詞條
詞條說明
波長色散X射線熒光光譜儀(WD-XRF)作為現(xiàn)代分析技術(shù)的杰出代表,在材料科學(xué)、化學(xué)工程、地質(zhì)勘探及環(huán)境監(jiān)測等多個(gè)領(lǐng)域發(fā)揮著不可替代的作用。近年來,國產(chǎn)自主品牌在這一高精尖技術(shù)領(lǐng)域取得了顯著突破,不僅打破了國際品牌的壟斷,還以更高的性價(jià)比和定制化服務(wù)贏得了國內(nèi)外市場的廣泛認(rèn)可。國產(chǎn)波長色散X射線熒光光譜儀的工作原理基于X射線光譜學(xué)原理,通過激發(fā)樣品中的原子,使其內(nèi)殼層電子躍遷并發(fā)射出特征X射線。這
單道掃描ICP光譜儀是一種基于電感耦合等離子體(Inductively Coupled Plasma,簡稱ICP)技術(shù)和單道掃描光學(xué)檢測相結(jié)合的高精度分析儀器。它在現(xiàn)代分析化學(xué)領(lǐng)域,特別是元素分析方面,發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。單道掃描ICP光譜儀的工作原理是:首先,ICP作為激發(fā)源,通過高頻電磁場產(chǎn)生的高溫等離子體(溫度可達(dá)6000-8000K),使樣品中的原子或分子被激發(fā)至高能態(tài)。當(dāng)這些激發(fā)態(tài)的原
光譜儀( Spectroscope)又稱分光儀。以光電倍增管等光探測器在不同波長位置,測量譜線強(qiáng)度的裝置。其構(gòu)造由一個(gè)入射狹縫,一個(gè)色散系統(tǒng),一個(gè)成像系統(tǒng)和一個(gè)或多個(gè)出射狹縫組成。以色散元件將輻射源的電磁輻射分離出所需要的波長或波長區(qū)域,并在選定的波長上(或掃描某一波段)進(jìn)行強(qiáng)度測定。分為單色儀和多色儀兩種。是將成分復(fù)雜的光分解為光譜線的科學(xué)儀器,由棱鏡或衍射光柵等構(gòu)成,利用光譜儀可測量物體表面反
XRF熒光光譜儀產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)XRF熒光光譜儀是一種廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、環(huán)境科學(xué)、礦物學(xué)、考古學(xué)等多個(gè)領(lǐng)域的分析儀器。其產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)主要表現(xiàn)在以下幾個(gè)方面:1. 高精度分析:XRF技術(shù)基于原子對(duì)輻射光的共振,其分析精度遠(yuǎn)高于傳統(tǒng)化學(xué)分析方法。因此,XRF熒光光譜儀能夠提供高精度的元素分析結(jié)果,對(duì)于質(zhì)量控制和科學(xué)研究具有重要意義。2. 快速分析:XRF熒光光譜儀的檢測時(shí)間通常較短,能夠?qū)崿F(xiàn)快速分析。這對(duì)于生產(chǎn)
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