X射線金屬鍍層膜厚儀

時(shí)間：2020-09-19作者：昆山市周市牧亞凱機(jī)電設(shè)備商行瀏覽：1277

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• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 江蘇固定式金屬分析光譜儀

  金屬的光譜分析法是指通過(guò)分析樣品的光譜特性來(lái)定量其中不同元素的含量。以較為**的直讀光譜儀為例，具體分析過(guò)程包括：1.通過(guò)電容火花放電的方式使被測(cè)金屬表面蒸發(fā)形成原子蒸汽，由于受到高能激發(fā)，這些原子的核外電子會(huì)從基態(tài)躍遷到激發(fā)態(tài)，由于激發(fā)態(tài)的電子處于不穩(wěn)態(tài)，會(huì)躍遷回基態(tài)，并放出光子，形成光源。2.不同的元素其發(fā)出的光子特征波長(zhǎng)不一樣。將光源的光通過(guò)分光系統(tǒng)分光后，由光電檢測(cè)器檢測(cè)各個(gè)元素特征波長(zhǎng)上

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  便攜式VOCs泄漏檢測(cè)儀為何常選PID原理近日，全國(guó)各地**針對(duì)**VOCs泄漏探測(cè)器的采購(gòu)量有了很大的提高。原因是《2020年揮發(fā)性**物治理方案》的制定提到，執(zhí)法設(shè)備水平必須提高，應(yīng)配備幾種攜帶探測(cè)器，包括攜帶探測(cè)器VOCs泄漏探測(cè)器。目前市場(chǎng)上很受歡迎VOCs泄漏檢測(cè)儀主要有兩種原理，一種是PID(光離子)原理，另一個(gè)是FID(氫火苗正離子)原理。但在某些檢測(cè)環(huán)境和環(huán)境下，PID原理的V

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• 江蘇便攜式鍍層測(cè)厚儀

  1、原理：X射線照射樣品，經(jīng)過(guò)鍍層界面，射線返回的信號(hào)發(fā)生突變，根據(jù)理論上同材質(zhì)無(wú)限厚樣品反饋回強(qiáng)度的關(guān)系推斷鍍層的厚度。理論上兩層中含有同一元素測(cè)試很困難（信號(hào)分不開(kāi)）。2、XRF鍍層測(cè)厚儀：俗稱X射線熒光測(cè)厚儀、鍍層測(cè)厚儀、膜厚儀、膜厚測(cè)試儀、金鎳厚測(cè)試儀、電鍍膜厚儀等。功能：精密測(cè)量金屬電鍍層的厚度。應(yīng)用范圍：測(cè)量鍍層,涂層,薄膜,液體的厚度或組成,測(cè)量范圍從22(Ti)到92(U)。