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詞條說明
鍍層厚度測試儀的工作原理是鍍層厚度測試儀是將X射線照射在樣品上,通過從樣品上反射出來的*二次X射線的強(qiáng)度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度,因?yàn)闆]有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右,所以不會對樣品造成損壞。同時,鍍層厚度測試儀測量的也可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。鍍層厚度測試儀優(yōu)勢:耐腐蝕性驗(yàn)證所用涂料的厚度和化學(xué)性,以確保在惡劣環(huán)境中的產(chǎn)品功能和壽命。小的緊固件或大組件都可輕松處理。
鍍層膜厚儀性能特點(diǎn)滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測試點(diǎn)的需求高精度移動平臺可定位測試點(diǎn),重復(fù)定位精度小于0.005mm采用高度定位激光,可自動定位測試高度定位激光確定定位光斑,確保測試點(diǎn)與光斑對齊鼠標(biāo)可控制移動平臺,鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測點(diǎn)高分辨率探頭使分析結(jié)果較加精準(zhǔn)良好的射線屏蔽作用測試口高度敏感性傳感器保護(hù)技術(shù)指標(biāo)型號:Thick 800
ICP-OES、ICP-MS、AAS傻傻分不清ICP-OES,即電感耦合等離子體(ICP)光譜儀;而ICP-MS,則以ICP方法離子質(zhì)譜分析。有時,人們會叫它。“ICP質(zhì)譜分析”。那他們和AAS有什么區(qū)別?如何選擇統(tǒng)計(jì)分析方法?針對有著ICP-OES有技術(shù)背景的人,ICP-MS它是一種以質(zhì)譜儀器為探測器的等離子體(ICP),但質(zhì)譜分析學(xué)者認(rèn)為,質(zhì)譜分析學(xué)者認(rèn)為ICP-MS是一個以ICP質(zhì)譜儀器為源
手持式光譜分析儀原理手持式光譜分析儀為各行各業(yè)的工作人員提供了很大的方便,操作者可以從心所欲地進(jìn)行現(xiàn)場分析和原位分析等測試。它也是目前在國內(nèi)比較廣泛生產(chǎn)和運(yùn)用的儀器。手持式分析儀運(yùn)用X射線熒光光譜的工作原理,通過一系列X光管**出X射線,并且激發(fā)出被分析的合金,從而使合金內(nèi)部原子產(chǎn)生能量,并且達(dá)到一定程度產(chǎn)生二次釋放X射線。我們通過探測機(jī)器捕獲到二次射線,于是與能量光譜圖開始進(jìn)行成分分析和測試,并
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