多通道光譜儀和光柵光譜儀有哪些異同？

時(shí)間：2022-01-19作者：昆山市周市牧亞凱機(jī)電設(shè)備商行瀏覽：288

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• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 鍍層測(cè)厚儀的測(cè)量原理

  一． 磁吸力測(cè)量原理及測(cè)厚儀*磁鐵（測(cè)頭）與導(dǎo)磁鋼材之間的吸力大小與處于這兩者之間的距離成一定比例關(guān)系，這個(gè)距離就是覆層的厚度。利用這一原理制成測(cè)厚儀，只要覆層與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大，就可進(jìn)行測(cè)量。鑒于大多數(shù)工業(yè)品采用結(jié)構(gòu)鋼和熱軋冷軋鋼板沖壓成型，所以磁性測(cè)厚儀應(yīng)用較廣。測(cè)厚儀基本結(jié)構(gòu)由磁鋼，接力簧，標(biāo)尺及自停機(jī)構(gòu)組成。磁鋼與被測(cè)物吸合后，將測(cè)量簧在其后逐漸拉長(zhǎng)，拉力逐漸增大。當(dāng)拉力剛好大于吸

• 江蘇便攜式鍍層測(cè)厚儀

  1、原理：X射線照射樣品，經(jīng)過(guò)鍍層界面，射線返回的信號(hào)發(fā)生突變，根據(jù)理論上同材質(zhì)無(wú)限厚樣品反饋回強(qiáng)度的關(guān)系推斷鍍層的厚度。理論上兩層中含有同一元素測(cè)試很困難（信號(hào)分不開）。2、XRF鍍層測(cè)厚儀：俗稱X射線熒光測(cè)厚儀、鍍層測(cè)厚儀、膜厚儀、膜厚測(cè)試儀、金鎳厚測(cè)試儀、電鍍膜厚儀等。功能：精密測(cè)量金屬電鍍層的厚度。應(yīng)用范圍：測(cè)量鍍層,涂層,薄膜,液體的厚度或組成,測(cè)量范圍從22(Ti)到92(U)。

• 多通道光譜儀和光柵光譜儀有哪些異同？

  多路光譜儀事實(shí)上也是大伙兒常說(shuō)的PMT光譜儀，光柵尺光譜儀事實(shí)上也是大伙兒所說(shuō)的CCD全譜光譜分析儀光譜儀，前邊一種的話容量大，增加安全通道相對(duì)艱辛，而且耗費(fèi)高，CCD光譜儀屬于全譜光譜分析儀，身型小，可隨便移動(dòng)，而且可以隨便增加譜線，幾乎不導(dǎo)致耗費(fèi)，這也是二者簡(jiǎn)單的不一樣。各自優(yōu)點(diǎn)下面簡(jiǎn)單也簡(jiǎn)易的列舉了以下，供您參考：D全譜光譜分析儀光譜儀剖析；方便快捷增加基體和剖析元素種類。D

• X射線金屬鍍層膜厚儀

  鍍層膜厚儀性能特點(diǎn)滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求高精度移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)高分辨率探頭使分析結(jié)果較加精準(zhǔn)良好的射線屏蔽作用測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)技術(shù)指標(biāo)型號(hào)：Thick 800