電感可靠性測試方法與標(biāo)準(zhǔn)

時(shí)間：2025-07-18作者：武漢市鑫宇環(huán)檢測技術(shù)有限公司瀏覽：189

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  詞條說明

• 電感可靠性測試方法與標(biāo)準(zhǔn)

  電感可靠性測試分為環(huán)境測試和物理測試兩種。 一般的SMD型電感，貼片功率電感，插件電感等都會做這樣的測試。環(huán)境測試主要測試電感的耐溫性，耐濕性，熱沖擊等；物理測試主要是測試電感的強(qiáng)度，可焊性，再流焊，跌落，碰撞等。 一、電感可靠性測試之環(huán)境測試 MIL-STD-202G Method 108A 高溫儲存試驗(yàn) 1.無明顯的外觀缺陷 2.感值變化不**過10% 3.品質(zhì)因數(shù)變化不**過30% 4.直流電阻

• 材料檢測表征方法之掃描電鏡

  材料檢測表征方法之掃描電鏡 自從1965年**臺商品掃描電鏡問世以來，經(jīng)過40多年的不斷改進(jìn)，掃描電鏡的分辨率從**臺的25nm提高到現(xiàn)在的0.01nm，而且大多數(shù)掃描電鏡都能與X射線波譜儀、X射線能譜儀等組合，成為一種對表面微觀世界能夠經(jīng)行全面分析的多功能電子顯微儀器。 在材料領(lǐng)域中，掃描電鏡技術(shù)發(fā)揮著較其重要的作用，被廣泛應(yīng)用于各種材料的形態(tài)結(jié)構(gòu)、界面狀況、損傷機(jī)制及材料性能預(yù)測等方面的研究

• 9月份EMC領(lǐng)域的主要標(biāo)準(zhǔn)更新匯總

  ? ETSI EN 303 413 V1.2.0 (2020-09) Satellite Earth Stations and Systems (SES); Global Navigation Satellite System (GNSS) receivers; Radio equipment operating in the 1 164 MHz to 1 300 MHz and 1 559 MH

• 元器件的失效原因和故障檢查方法

  電子元器件在使用過程中，常常會出現(xiàn)失效。失效就意味著電路可能出現(xiàn)故障，從而影響設(shè)備的正常工作。這里分析了常見元器件的失效原因和常見故障。 電子設(shè)備*部分故障，究其較終原因都是由于電子元器件失效引起的。如果熟悉了元器件的失效原因，及時(shí)定位到元器件的故障原因，就能及時(shí)排除故障，讓設(shè)備正常運(yùn)行。 ?溫度導(dǎo)致失效：元件失效的重要因素之一就是環(huán)境溫度對元器件的影響。 ?溫度變化對半導(dǎo)體器件的影響： 由于P