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MC-2010A型涂層測厚儀(鍍層測厚儀) 一、概述 MC-2010A型涂(鍍)層測厚儀是公司**的結(jié)晶。涂層測厚儀采用單片機(jī)技術(shù),測量精度高、數(shù)字顯示、操作簡單方便、觸摸按鍵、內(nèi)置探頭全量程測量、體積小、重量輕; 強大的抗干擾能力,求值較穩(wěn)定;且具有低電壓指示、統(tǒng)計、系統(tǒng)/零點/兩點校準(zhǔn)功能,其性能已達(dá)到當(dāng)代**同類儀器的**水平。 MC-2010A型涂鍍層測厚儀應(yīng)用范圍:本儀器采用磁性測
供應(yīng)超聲波探傷儀leeb520/521/522優(yōu)勢品牌
leeb520/521/522超聲波探傷儀是一種便攜式工業(yè)無損探傷儀,它能夠快速、便攜、無損傷、精確地進(jìn)行工件內(nèi)部多種缺陷(裂紋、疏松、氣孔、夾雜等)的檢測、定位、評估和診斷。既可以用于實驗室,又可以用于工程現(xiàn)場。廣泛的應(yīng)用在鍋爐、壓力容器、航天、電力、石油、化工、海洋石油、管道、**、船舶制造、汽車、機(jī)械制造、冶金、金屬加工、鋼結(jié)構(gòu)、鐵路交通、核能電力、高校等行業(yè)。 leeb520/521/5
LS623JS激光標(biāo)線儀特征: 3線激光和1點下鉛垂激光 前、上2十字交叉激光線 連續(xù)或脈沖激光,室內(nèi)外兼用 自動安平,**范圍報警 機(jī)體360°任意角轉(zhuǎn)動 LS623JS激光標(biāo)線儀技術(shù)規(guī)格: 激光波長:635nm 激光等級:Class Ⅱ 精 度:±1mm/5m 安平范圍:±3° 電 源:3節(jié)5#電池 尺 寸:Ф80×188 mm 重 量: 1kg
產(chǎn)品型號:UV752N 產(chǎn)品名稱:UV752N紫外可見分光光度計 產(chǎn)品貨號: 產(chǎn)品價格:0 產(chǎn)品品牌:星楓儀器 產(chǎn)品類別:環(huán)境生態(tài)檢測儀器 UV752N紫外可見分光光度計 通過2011-2013年度紫外可見分光光度計3年期產(chǎn)品質(zhì)量國家監(jiān)督抽查首年檢測. 基本原理: ● 分光光度計分析法是基于不同分子結(jié)構(gòu)的物質(zhì)對電磁輻射選擇性吸收而建立的分析方法。 ● 應(yīng)用電磁輻射波譜區(qū)通常在200nm~1000
公司名: 南昌星楓儀器有限公司
聯(lián)系人: 黃經(jīng)理
電 話: 0791-85226050
手 機(jī): 15970662315
微 信: 15970662315
地 址: 江西南昌青云譜區(qū)南昌市青云譜區(qū)三點西路44號
郵 編: 330001
網(wǎng) 址: 0a05e41548.cn.b2b168.com
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