造成手持式光譜儀系統(tǒng)誤差的主要因素有哪些？

時間：2024-10-08

作者：無錫創(chuàng)想分析儀器有限公司杭州分公司

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簡析臺式X熒光光譜儀在運行時采用的三大定律
眾所周知臺式X熒光光譜儀在近年來眾多的領域中有很廣泛的應用。該款儀器可以對生活中不同元素形成的各式各樣的導體及非導體材料進行分析。那么臺式X熒光光譜儀在檢測分析時采用了哪些定律呢?創(chuàng)想小編來給大家簡單介紹下吧！莫塞萊定律：X射線熒光的波長隨著原子序數的增加有規(guī)律地向波長變短方向移動。莫塞萊根據譜線移動規(guī)律，建立了X射線波長與元素原子序數的定律。數學表達式為：(1/λ)^1/2=K(Z-S) 其中，
臺式X熒光光譜儀的測試步驟簡析
臺式X熒光光譜儀主要由激發(fā)源（X射線管）和探測系統(tǒng)構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發(fā)被測樣品，產生X熒光（二次X射線），探測器對X熒光進行檢測。那么臺式X熒光光譜儀的測試步驟你了解嗎？我們一起來看下吧。1、校準儀器，包括能量校準和波長校準，確保儀器的準確性和精度。2、準備樣品，確定樣品的表面平整，無雜質，無應力集中等缺陷。同時，確定樣品的粒度、密度和化學組成等參數，以便選擇合適的激發(fā)
臺式X熒光光譜儀測試時粉末樣品誤差的幾個來源分析
臺式X熒光光譜儀分析法之一的粉末樣品不存在固體樣品的主要缺點（不能用添加劑）。在各種應用中，粉末方法通常既方便又迅速。接下來我們了解下幾個臺式X熒光光譜儀測試時粉末樣品誤差來源。粉末樣品誤差主要來源：（1）粒度效應粉末樣品粒度效應是指被測量樣品中的分析元素的熒光強度變化和樣品的粒度變化有關。一般來說，被分析樣品的粒度越小，熒光強度越高，輕元素尤甚。原子序數越小，對粒度越敏感；同一元素粒度越小，
測量焊縫靠X熒光光譜儀事半功倍
我們在運輸大規(guī)模的液體和氣體的時候，一般都會采用管道運輸。這種運輸方式快速方便，而且人力也節(jié)省了不少。但是管道的連接確實一個問題，是如今被廣泛應用的一種運輸方式，管道必須要毫無縫隙，很多需要管道運輸的東西，如果泄露就會造成損失，較嚴重的會引起環(huán)境污染。想要管道之間的焊縫連接較加緊密，我們就需要精密度高的儀器來幫助。創(chuàng)想X熒光光譜儀憑借自身優(yōu)越的性能，成為焊縫檢測的有力幫手!高達5百萬像素的全景攝像