詞條
詞條說(shuō)明
氣密檢漏儀是一種測(cè)量被測(cè)件是否存在泄漏缺陷的設(shè)備。其原理是通過(guò)將被測(cè)件置于真空或壓力狀態(tài)下,依據(jù)差壓傳感器或質(zhì)量流量計(jì)等傳感器來(lái)測(cè)試試件內(nèi)部是否存在空隙和裂縫等問(wèn)題。我們將從多個(gè)角度介紹氣密檢漏儀。當(dāng)一個(gè)物體在真空或高壓環(huán)境下時(shí),若該物體表面粗糙或內(nèi)部有孔洞,則會(huì)產(chǎn)生微小的泄露現(xiàn)象。這時(shí),氣密檢漏儀就可以通過(guò)與被測(cè)試物品連接后進(jìn)行觀(guān)察、記錄數(shù)據(jù)并對(duì)其進(jìn)行分析等方法來(lái)判斷其中是否存在泄露問(wèn)題。氣密檢
氣密檢漏儀是一種測(cè)量被測(cè)件是否存在泄漏缺陷的設(shè)備,在電子元器件制造過(guò)程中有著廣泛的應(yīng)用。我們將從多個(gè)角度介紹氣密檢漏儀在電子元器件領(lǐng)域的應(yīng)用。在電子元器件領(lǐng)域,氣密檢漏儀有著廣泛的應(yīng)用。以下是一些常見(jiàn)的應(yīng)用場(chǎng)景:1. 封裝測(cè)試:在電子元器件的封裝過(guò)程中,需要保證封裝的密封性能,以防止外界環(huán)境對(duì)元器件的影響。氣密檢漏儀可以用來(lái)測(cè)試封裝是否合格,是否存在泄漏點(diǎn)。2. 真空設(shè)備測(cè)試:在一些電子元器件的制
CTS氣密_CTS儀器校正率_CTS儀器怎校準(zhǔn)?
CTS儀器校正率的作用?性能因素:是用來(lái)表述儀器區(qū)分合格件和不合格件的能力的一個(gè)量化參數(shù)。類(lèi)似AI學(xué)習(xí)的過(guò)程,儀器通過(guò)學(xué)習(xí),確定“合格”“不合格”產(chǎn)品的數(shù)值。例如: 標(biāo)準(zhǔn)件(不漏件)的壓降=10mBar? , 標(biāo)準(zhǔn)件+漏孔(模擬泄漏件)的壓降 =100mBar ,那么合格件和不合格件的區(qū)分度就是 90mBar 了, 性能因素 =? (100-10)/100? = 90
在測(cè)試零件時(shí),如果零件與零件容積差異**過(guò) 5-10%,或者在測(cè)試過(guò)程中零件的容積發(fā)生了改變,則您很可能需要進(jìn)行質(zhì)量流量測(cè)試。質(zhì)量流量測(cè)試是使用質(zhì)量流量計(jì)定義了通過(guò)零件或設(shè)備的流量。眾所周知,所有的零件都存在泄漏。許多行業(yè)(例如汽車(chē)制造、氣動(dòng)元件、HVAC 系統(tǒng)以及醫(yī)療設(shè)備)都有專(zhuān)門(mén)用于氣體或者液體循環(huán)的產(chǎn)品。泄漏測(cè)試的關(guān)鍵在于,產(chǎn)品的泄漏率是否在滿(mǎn)足其應(yīng)用的合格范圍內(nèi)。什么是質(zhì)量流量測(cè)試?質(zhì)量流量
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網(wǎng) 址: plas321.b2b168.com
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