詞條
詞條說明
原子吸收光譜儀AAS在地質(zhì)、冶金、機(jī)械、化工、農(nóng)業(yè)、食品、輕工、生物醫(yī)藥、環(huán)境保護(hù)、材料科學(xué)等各個(gè)領(lǐng)域有廣泛的應(yīng)用。該法主要適用樣品中微量及痕量組分分析?;鸹ü庾V儀1.選擇性強(qiáng)由于原子吸收譜線僅發(fā)生在主線系,而且譜線很窄,線重疊幾率較**光譜要小得多,所以光譜干擾較小選擇性強(qiáng),而且光譜干擾*克服。在大多數(shù)情況下,共存元素不對(duì)原子吸收光譜分析產(chǎn)生干擾。由于選擇性強(qiáng),使得分析準(zhǔn)確快速。2.靈敏度高原
鍍層測(cè)厚儀選購指南:關(guān)鍵指標(biāo)與實(shí)用建議鍍層測(cè)厚儀作為表面處理行業(yè)的重要檢測(cè)工具,其性能直接關(guān)系到產(chǎn)品質(zhì)量控制。市場(chǎng)上儀器種類繁多,如何選擇適合的型號(hào)成為許多用戶的難題。 測(cè)量原理選擇鍍層測(cè)厚儀主要分為磁感應(yīng)式和渦流式兩種。磁感應(yīng)式適用于測(cè)量磁性基體上的非磁性鍍層,如鋼鐵表面的鍍鋅、鍍鉻等。渦流式則用于非磁性金屬基體上的絕緣鍍層測(cè)量,如鋁合金表面的陽極氧化層。對(duì)于復(fù)雜基材組合,雙功能機(jī)型能提供較全
1.按入射光束數(shù)可分:實(shí)驗(yàn)室單光束原子吸收光譜儀和實(shí)驗(yàn)室雙光束原子吸收光譜儀;2.按原子化方式可分:實(shí)驗(yàn)室火焰原子吸收光譜儀和實(shí)驗(yàn)室石墨爐原子吸收光譜儀等;3.按背景扣除方法可分:實(shí)驗(yàn)室氘燈扣背景原子吸收光譜儀和實(shí)驗(yàn)室塞曼扣背景原子吸收光譜儀等;4.按分析對(duì)象的屬性可分:實(shí)驗(yàn)室無機(jī)物原子吸收光譜儀和實(shí)驗(yàn)室**物原子吸收光譜儀;5.按應(yīng)用范圍可分:**型實(shí)驗(yàn)室原子吸收光譜儀和通用型實(shí)驗(yàn)室原子吸收光譜
鍍層厚度測(cè)量的關(guān)鍵技術(shù)與應(yīng)用場(chǎng)景鍍層厚度直接影響產(chǎn)品的使用壽命和性能表現(xiàn)。在工業(yè)生產(chǎn)中,準(zhǔn)確測(cè)量鍍層厚度是確保產(chǎn)品質(zhì)量的重要環(huán)節(jié)。現(xiàn)代測(cè)量技術(shù)已經(jīng)發(fā)展出多種非破壞性檢測(cè)方法,能夠滿足不同場(chǎng)景下的測(cè)量需求。X射線熒光法是目前應(yīng)用較廣泛的鍍層厚度測(cè)量技術(shù)之一。這種方法利用X射線激發(fā)鍍層元素產(chǎn)生特征熒光,通過分析熒光強(qiáng)度來計(jì)算鍍層厚度。其較大優(yōu)勢(shì)在于測(cè)量精度高,可以達(dá)到納米級(jí),且適用于多種金屬鍍層的測(cè)量
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ROHS測(cè)試儀器 ROHS10項(xiàng)檢測(cè)儀 可以在較短的時(shí)間內(nèi)對(duì)樣品進(jìn)行分析
ROHS有害物質(zhì)分析儀 ROHS10項(xiàng)檢測(cè)儀 可以在較短的時(shí)間內(nèi)對(duì)樣品進(jìn)行分析
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ROHS2.0分析儀器 ROHS10項(xiàng)檢測(cè)儀 可以在較短的時(shí)間內(nèi)對(duì)樣品進(jìn)行分析
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ROHS環(huán)保檢測(cè)儀 ROHS10項(xiàng)檢測(cè)儀 可以在較短的時(shí)間內(nèi)對(duì)樣品進(jìn)行分析
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