外殼IP65測(cè)試CNAS實(shí)驗(yàn)室

時(shí)間：2023-04-12作者：深圳市環(huán)測(cè)威檢測(cè)技術(shù)有限公司瀏覽：88

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  外殼防護(hù)等級(jí)測(cè)試環(huán)測(cè)威檢測(cè)機(jī)構(gòu)，IP代碼的個(gè)數(shù)字：防塵試驗(yàn) IP1X：代表直徑為50mm的球形試具無(wú)法進(jìn)入空隙進(jìn)入產(chǎn)品內(nèi)部；IP2X：代表直徑為12.5mm的球形物體無(wú)法透過(guò)產(chǎn)品空隙；IP3X：代表直徑2.5mm的物體試具無(wú)法透過(guò)產(chǎn)品空隙；IP4X：直徑為1mm的金屬線不能透過(guò)產(chǎn)品空隙并影響危險(xiǎn)部件；IP5X：放置于沙塵箱中，開(kāi)蓋檢查產(chǎn)品內(nèi)部無(wú)灰塵進(jìn)入；IP6X：產(chǎn)品需抽負(fù)壓，放置沙塵箱中，開(kāi)蓋檢

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