Femtum中紅外納秒光纖激光器對(duì)薄膜加工的應(yīng)用表現(xiàn)

時(shí)間：2022-08-31作者：深圳維爾克斯光電有限公司瀏覽：294

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• 詞條

  詞條說(shuō)明

• Xenics遠(yuǎn)紅外相機(jī)、長(zhǎng)波紅外相機(jī)(LWIR相機(jī))

  Xenics紅外相機(jī)的LWIR長(zhǎng)波紅外相機(jī)，基于a-Si非晶硅材料探測(cè)器的長(zhǎng)波紅外非制冷相機(jī)，包括小型、高性能長(zhǎng)波紅外非制冷相機(jī)（遠(yuǎn)紅外相機(jī)）Gobi+ 640系列和緊湊型高分辨率工業(yè)熱成像應(yīng)用的Ceres T系列。a-Si探測(cè)器材料是一種新興的半導(dǎo)體薄膜材料，是一種直接能帶半導(dǎo)體，一般除了應(yīng)用在半導(dǎo)體、太陽(yáng)能電池上，也可用作自計(jì)溫度計(jì)照相機(jī)(Thermal Camera)中的微輻射探測(cè)儀(mic

• 海納光學(xué)新推出一款寬波段紅外探測(cè)卡 750-2130nm

  海納新出了一款寬波段紅外探測(cè)卡，新出的型號(hào)能滿足大多數(shù)用戶的波長(zhǎng)要求。寬波段紅外探測(cè)卡打破原有國(guó)產(chǎn)紅外檢測(cè)卡波段窄的限制，將波長(zhǎng)從原有的1590nm擴(kuò)大到了2130nm。最為關(guān)鍵的一點(diǎn)是這個(gè)新款的紅外檢測(cè)卡可替代一系列國(guó)產(chǎn)紅外激光探測(cè)卡和進(jìn)口的激光可視卡，比如可以替代N-1-AC、N-1-AG、N-1-BG、N-3-AM，俄羅斯phts的IR1/IR2/IR3系列以及索雷博的VRC2、VRC5、V

• Specim高光譜相機(jī)檢測(cè)金屬和紡織品的油污的效果實(shí)測(cè)

  使用Specim高光譜相機(jī)檢測(cè)金屬和織物上的油污許多行業(yè)中使用油作為潤(rùn)滑劑，但在產(chǎn)品完成后，殘留的油通常被認(rèn)為是一種污染物，通過(guò)人眼觀察很難檢查到油，而傳統(tǒng)的RGB相機(jī)也無(wú)法檢測(cè)到油，但是高光譜相機(jī)在正確的波長(zhǎng)下工作時(shí)就可以檢測(cè)到油污信息為了證實(shí)這一點(diǎn)，Specim公司在鋁片和黑色織物上涂抹了三種不同類型的油（見圖1），并使用三種不同類型的Specim高光譜相機(jī)對(duì)其進(jìn)行掃描：FX17、SWIR和F

• LaserOptik不同基片的折射率和透射譜

  LaserOptik庫(kù)存波長(zhǎng)范圍從120nm到50μm的涂層基材，基本滿足客戶所需的波長(zhǎng)。LaserOptik基片均以高質(zhì)量規(guī)格制造，使得散射、吸收或光束偏差等關(guān)鍵光學(xué)特性保持在最小值。除了平整度和粗糙度，表面缺陷是衡量基底材料的另一個(gè)關(guān)鍵參數(shù)。LaserOptik備有一系列紫外線和紅外線傳輸基材，可快速交付。只有了解了不同LaserOptik基片的折射率，才能更好的知道如何選擇基底材料。本文除了