手持式光譜儀測(cè)試范圍的局限性

時(shí)間：2022-08-03作者：科邁斯（深圳）科學(xué)儀器有限公司瀏覽：199

科邁斯（深圳）科學(xué)儀器有限公司專注于手持式X熒光光譜儀,手持式XRF合金分析儀,手持式直讀光譜儀等

• 詞條

  詞條說明

• 手持式光譜儀測(cè)試范圍的局限性

  企業(yè)外出采購金屬材料時(shí)，常常使用到手持式光譜儀。采購時(shí)就能夠知道金屬材料的質(zhì)量是否達(dá)到企業(yè)產(chǎn)品需求，但手持式光譜儀并不是所有元素都能檢測(cè)，也是有局限性的，下面科邁斯儀器帶大家一起看看手持式光譜儀需要注意的局限性。1.檢出限不會(huì)低到實(shí)驗(yàn)室結(jié)果的水平，而且不是所有元素都能檢測(cè)。比如手持式光譜儀測(cè)不到金屬中的碳非金屬元素（C）、氫（H）、氧（O）、氮（N）、硼（B），金屬元素如鋰（Li)）、的鈹（Be）

• 三元催化光譜儀的技術(shù)優(yōu)勢(shì)

  三元催化光譜儀的技術(shù)優(yōu)勢(shì)：1、性能良好精度高，接近我們實(shí)驗(yàn)室級(jí)的分析技術(shù)水平，可直觀數(shù)據(jù)顯示合號(hào)和元素進(jìn)行百分比不同含量及ppm含量。2、*特的**技術(shù)采用*特的**技術(shù)，將手持式合金分析儀的性能提高到了真正的實(shí)驗(yàn)室水平。si-pin探測(cè)器與幾何結(jié)構(gòu)優(yōu)化設(shè)計(jì)進(jìn)行思想**地結(jié)合在了一起，與傳統(tǒng)信息技術(shù)的儀器相比，其分析發(fā)展速度提高了10倍左右，分析結(jié)果精度可以提高3倍左右，具有很高的靈敏度與檢測(cè)系統(tǒng)

• 利用手持式光譜儀K-8000檢測(cè)金屬

  利用手持式光譜儀K-8000檢測(cè)金屬板狀、塊狀、帶狀、方管狀、中等規(guī)格柱狀和錐體狀（截面）材料等易獲得能完全覆蓋測(cè)量窗口（和接觸窗口）的檢測(cè)面，進(jìn)而**較佳檢測(cè)結(jié)果，測(cè)試圓管（柱）狀、錐管狀等材料時(shí)，軸向測(cè)試**切線向，直徑大于11 mm時(shí)，兩個(gè)方向的檢測(cè)結(jié)果基本一致（直徑在12~63 mm之間時(shí)，接觸窗口切線向沒有感應(yīng)）；檢測(cè)小規(guī)格柱狀、管狀以及絲狀材料，適當(dāng)延長測(cè)試時(shí)間，并用已定值的實(shí)物樣品校

• 手持式XRF光譜儀探測(cè)器如何選擇

  SDD還是PIN：您的手持式XRF分析儀需要哪種探測(cè)器？在購買手持式XRF分析儀時(shí)，確定需要硅漂移探測(cè)器（SDD）還是PIN探測(cè)器是您需要做出的首要選擇之一?？七~斯KMX-RAY?XRF系列中的兩款儀器就配備了兩種不同的探測(cè)器：K-8000分析儀裝配有Si-PIN探測(cè)器(美國MOXTEK)，而K-800、K-8000PLUS分析儀裝配有SDD探測(cè)器(德國KETEK)。SDD對(duì)比PIN：它