rohs檢測(cè)儀有哪些技術(shù)指標(biāo)

時(shí)間：2022-05-12作者：江蘇天瑞儀器股份有限公司瀏覽：630

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• 詞條

  詞條說(shuō)明

• rohs檢測(cè)儀分析原理是什么

  ROHS檢測(cè)儀就是X射線熒光光譜儀，分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理。X射線熒光光譜儀通?？煞譃閮纱箢?波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF),波長(zhǎng)色散光譜儀主要部件包括激發(fā)源、分光晶體和測(cè)角儀、探測(cè)器等，而能量色散光譜儀則只需激發(fā)源和探測(cè)器和相關(guān)電子與控制部件，相對(duì)簡(jiǎn)單。波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測(cè)元素的分析譜線，根據(jù)Bragg定律

• 手持XRF分析儀

  手持XRF分析儀是元素快速分析的好幫手，滿足合金，礦石，土壤重金屬，rohs，鍍層等各個(gè)領(lǐng)域的便攜測(cè)試分析，連接便攜藍(lán)牙打印設(shè)備，可以現(xiàn)場(chǎng)出具測(cè)試報(bào)告。手持XRF分析儀光譜儀應(yīng)用領(lǐng)域優(yōu)勢(shì)超大樣品測(cè)試當(dāng)樣品體積太大，且不能切割取樣時(shí)，普通臺(tái)式儀器無(wú)法對(duì)其進(jìn)行RoHS等有害元素的有效測(cè)試，此時(shí)手持XRF分析儀則可大顯神通，直接對(duì)其表面進(jìn)行測(cè)試，使用更方便快捷，大大提高了檢測(cè)效率。玩具樣品測(cè)試玩其樣品多

• X熒光光譜鍍層測(cè)厚儀

  X熒光光譜鍍層測(cè)厚儀既滿足原有微小和復(fù)雜形態(tài)樣品的膜厚檢測(cè)功能,又可滿足有害元素檢測(cè)及輕元素成分分析,被廣泛應(yīng)用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來(lái)料檢驗(yàn)和對(duì)生產(chǎn)工藝控制的測(cè)量。X熒光光譜鍍層測(cè)厚儀配置01 獨(dú)立的X/Y/Z軸控制系統(tǒng)02 微焦斑X光管?03 可變高壓電源04 防撞板外加防撞激光保護(hù)檢測(cè)器對(duì)儀器進(jìn)行雙重安全保護(hù)05 Fast-SDD探測(cè)器06 雙激光定位裝置07 標(biāo)配可自動(dòng)切換的準(zhǔn)直

• X射線熒光光譜儀的儀器類別及特點(diǎn)

  X射線熒光光譜儀一種射線式分析儀器,是X射線分析儀器的一種常用形式。X射線熒光光譜儀能分析原子序數(shù) 12～92的所有元素，選擇性高，分析微量組分時(shí)受基體的影響小，在地質(zhì)、采礦和冶金等部門應(yīng)用很廣。X射線熒光光譜儀：儀器儀表、成份分析儀器、熒光光度計(jì)。?指標(biāo)信息1、發(fā)射源是Rh靶X光管，最大電流125mA，電壓60kV，最大功率3kW。2、儀器在真空條件下工作，真空度<13pasca