聚焦離子束（FIB）在成分分析中的應(yīng)用

時間：2020-02-14作者：深圳市啟威測標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)服務(wù)有限公司瀏覽：277

深圳市啟威測標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)服務(wù)有限公司專注于表面微觀形貌SEM,材料斷口觀察SEM,表面成分分析EDS,微量污染物成分分析,涂鍍層厚度測試,表面粗糙度量測等

• 詞條

  詞條說明

• SEM及EDS測試范圍有哪些？

  SEM的二次電子成像分辨率約3nm背散射電子成像分辨率約300nmEDS成分分析的元素范圍Be~U分析深度約1μm檢測下限約1%空間分辨率約1μmSEM+?EDS常規(guī)服務(wù)項目:各種固體材料的形貌分析微區(qū)化學(xué)成分檢測樣品成分的線分布和面分布分析機(jī)械探針式測量方法:探針式輪廓儀測量范圍大，測量精度高，但它是一種點(diǎn)掃描測量，測量費(fèi)時。機(jī)械探針式測量方法是開發(fā)較早、研究充分的一一種表面輪廓測量方

• 常用熱分析方法對比

  熱分析技術(shù)是在溫度程序控制下研究材料的各種轉(zhuǎn)變和反應(yīng)，是一種十分重要的分析測試方法。常用的熱分析方法有：熱重法(TG)、差熱分析法（DTA）、差示掃描量熱法（DSC）。熱重分析法：?熱重分析（Thermogravimetric Analysis，TG或TGA），是指在程序控制溫度下測量待測樣品的質(zhì)量與溫度變化關(guān)系的一種熱分析技術(shù)，用來研究材料的熱穩(wěn)定性和組份。TGA在研發(fā)和質(zhì)量控制方面都

• 涂鍍層厚度測試的應(yīng)用領(lǐng)域

  涂鍍層厚度測試應(yīng)用領(lǐng)域電子、汽車、航空、材料、金屬、陶瓷品等各個制造領(lǐng)域。涂/鍍層厚度測量相關(guān)參考標(biāo)準(zhǔn)GB/T?6462-2005?金屬和氧化物覆蓋層厚度測量顯微鏡法GB/T16921-2005?金屬覆蓋層?覆蓋層厚度測量 X射線光譜法ASTM?B487-1985(2007)?用橫斷面顯微觀察法測定金屬及氧化層試驗方法ASTM?

• 表面成分分析需要的工具有哪些？

  表面成分分析工具化學(xué)抽提法微譜技術(shù)實拍--氣相色譜儀微譜技術(shù)實拍--氣相色譜儀XRF法GC-MSLC-MSICP-MS核磁ICGPCXRD等金屬材料測試常用方法濕法分析直讀光譜（OES）電感耦合等離子體放射光譜（ICP-AES）電感耦合等離子體質(zhì)譜儀（ICP-MS）原子吸收光譜（AAS）手持式XRF