X射線光譜方法測(cè)定

時(shí)間：2019-12-23作者：深圳市啟威測(cè)標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)服務(wù)有限公司瀏覽：325

深圳市啟威測(cè)標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)服務(wù)有限公司專注于表面微觀形貌SEM,材料斷口觀察SEM,表面成分分析EDS,微量污染物成分分析,涂鍍層厚度測(cè)試,表面粗糙度量測(cè)等

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• SEM及EDS測(cè)試范圍有哪些？

  SEM的二次電子成像分辨率約3nm背散射電子成像分辨率約300nmEDS成分分析的元素范圍Be~U分析深度約1μm檢測(cè)下限約1%空間分辨率約1μmSEM+?EDS常規(guī)服務(wù)項(xiàng)目:各種固體材料的形貌分析微區(qū)化學(xué)成分檢測(cè)樣品成分的線分布和面分布分析機(jī)械探針式測(cè)量方法:探針式輪廓儀測(cè)量范圍大，測(cè)量精度高，但它是一種點(diǎn)掃描測(cè)量，測(cè)量費(fèi)時(shí)。機(jī)械探針式測(cè)量方法是開發(fā)較早、研究充分的一一種表面輪廓測(cè)量方

• 表面成分分析需要的工具有哪些？

  表面成分分析工具化學(xué)抽提法微譜技術(shù)實(shí)拍--氣相色譜儀微譜技術(shù)實(shí)拍--氣相色譜儀XRF法GC-MSLC-MSICP-MS核磁ICGPCXRD等金屬材料測(cè)試常用方法濕法分析直讀光譜（OES）電感耦合等離子體放射光譜（ICP-AES）電感耦合等離子體質(zhì)譜儀（ICP-MS）原子吸收光譜（AAS）手持式XRF

• 材料斷口觀察SEM分析檢測(cè)

  用肉眼（目視）或在不大于10倍的放大鏡下，檢驗(yàn)金屬的宏觀組織和缺陷稱為組織檢驗(yàn)。在實(shí)驗(yàn)室中，常用的檢驗(yàn)方法有酸蝕低倍檢驗(yàn)、斷口檢驗(yàn)、塔形車削發(fā)紋檢驗(yàn)和硫印試驗(yàn)等。酸蝕低倍檢驗(yàn)，這是一種將制備好的試樣，經(jīng)過(guò)酸液腐蝕以后，來(lái)顯示試樣的宏觀組織的檢驗(yàn)。而根據(jù)酸液溫度的不同，又可以分為熱酸蝕和冷酸蝕兩種檢驗(yàn)。按GB/T1979評(píng)級(jí)圖對(duì)照低倍組織缺陷圖來(lái)進(jìn)行評(píng)級(jí)。，通過(guò)放大鏡，在酸蝕后的試片上可以發(fā)現(xiàn)各種皮

• 表面成分分析的常見(jiàn)方法

  表面成分分析按照結(jié)論來(lái)區(qū)分，物質(zhì)成分分析分為定性分析和定量分析兩種.成分分析的定性結(jié)果?通俗的理解是——通過(guò)成分分析的手段得出被測(cè)物中主要包括的成分，概況的來(lái)說(shuō)就是確定物質(zhì)的組分。成分分析的定量結(jié)果?通俗的理解是——在確定被測(cè)物的定性組分之后，進(jìn)行相應(yīng)的定量分析，得出各種組分的分配比例。按照現(xiàn)在的科學(xué)技術(shù)，定量分析只能做到無(wú)限接近真實(shí)情況，但卻無(wú)法**保證準(zhǔn)確。定性半定量分