ZD系列小型溫濕度箱

時(shí)間：2016-12-06作者：廣東宏展科技有限公司瀏覽：161

廣東宏展科技有限公司專注于高低溫試驗(yàn)箱,恒溫恒濕試驗(yàn)箱,快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱等

• 詞條

  詞條說明

• 關(guān)于冷熱沖擊箱的一些知識(shí)點(diǎn)

  宏展儀器的冷熱沖擊試驗(yàn)箱設(shè)備規(guī)格系列齊全,分為提籃式、三廂式、水平移動(dòng)三種沖擊模式，適用于電工、電子產(chǎn)品整機(jī)及零部件進(jìn)行耐冷試驗(yàn)、溫度快速變化或漸變條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)箱，而且特別適用于進(jìn)行電工、電子產(chǎn)品的環(huán)境應(yīng)力篩選(ESS)試驗(yàn)。設(shè)備還可提供標(biāo)準(zhǔn)高低溫試驗(yàn)功能，實(shí)現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗(yàn)的共同兼容，高強(qiáng)度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)確保了設(shè)備的可靠性。冷熱沖擊箱的工作室材料為SUS304不銹鋼，抗腐蝕、

• 解析高低溫檢測(cè)試驗(yàn)箱密閉性問題

  ? ? ? ? 高低溫檢測(cè)試驗(yàn)箱因?yàn)榫哂懈邷貦z測(cè)，低溫檢測(cè)，高低溫循環(huán)系統(tǒng)檢測(cè)、高低溫高矮濕等實(shí)驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)，在高溫標(biāo)準(zhǔn)下，如做150℃較端化高溫和98%環(huán)境濕度狀況下，實(shí)驗(yàn)室內(nèi)外的壓力差大幅度擴(kuò)大，此刻就磨練試驗(yàn)箱體的密閉性做的怎樣的難題了。如密閉性不太好，會(huì)造成比較嚴(yán)重的漏汽，危害溫度的精密度和勻稱度。 那么導(dǎo)致高低溫檢測(cè)試驗(yàn)箱密閉性難題的有什么原因呢? 一，

• ESS應(yīng)力篩選試驗(yàn)箱/快速溫變?cè)囼?yàn)箱/上海ESS應(yīng)力篩選試驗(yàn)箱/上?？焖贉刈?cè)囼?yàn)箱

  ESS應(yīng)力篩選試驗(yàn)箱/快速溫變?cè)囼?yàn)箱/上海ESS應(yīng)力篩選試驗(yàn)箱/上?？焖贉刈?cè)囼?yàn)箱 用途： HTQ系列應(yīng)力篩選(ESS)試驗(yàn)箱適用于電工、電子產(chǎn)品整機(jī)及零部件進(jìn)行耐寒試驗(yàn)、溫度快速變化或漸變條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)。特別適用于進(jìn)行電工、電子產(chǎn)品的開發(fā)和生產(chǎn)期間，能夠較大地改善領(lǐng)域的可靠性以及減少維修上的花費(fèi)。在開發(fā)期間應(yīng)用ESS能夠很大程度上節(jié)省測(cè)試時(shí)間和花費(fèi)，從而消除或減少資格測(cè)試之前的隱藏的缺陷。對(duì)

• 半導(dǎo)體芯片在進(jìn)行高低溫測(cè)試時(shí)的注意事項(xiàng)

  半導(dǎo)體芯片高低溫測(cè)試是jin屬、元器件、電子汽車配件、化學(xué)材料等材料行業(yè)經(jīng)常能用到的測(cè)試，用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料。在經(jīng)過高溫及較低溫的連續(xù)變化環(huán)境試驗(yàn)我們可以檢測(cè)出半導(dǎo)體芯片忍受較端溫度變化的程度，得以在短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)到試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理?yè)p傷。在做半導(dǎo)體芯片高低溫測(cè)試需要特別注意，在使用的過程中不能輕易打開半導(dǎo)體芯片高低溫測(cè)試箱，主要原因如下：1.做半導(dǎo)體芯片高低溫測(cè)試時(shí)需要用