詞條
詞條說(shuō)明
鹽霧試驗(yàn)測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)是什么
鹽霧試驗(yàn)是一種利用鹽霧試驗(yàn)設(shè)備所創(chuàng)造的人工模擬鹽霧環(huán)境條件來(lái)確認(rèn)產(chǎn)品或金屬材料耐腐蝕性能的環(huán)境試驗(yàn)。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于曝露持續(xù)時(shí)間。實(shí)驗(yàn)室常用的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):GB/T 2423.17,IEC60068-2-11,GB/T 10125,ISO 9227,ISO4628-3, ASTM B117, JIS-Z2371, JIS-G3141, GJB 150.1, MIL-STD-810F, MIL-ST
高加速試驗(yàn)加速試驗(yàn)包括高加速壽命試驗(yàn)(HALT)和高加速應(yīng)力篩檢(HASS)。這些測(cè)試評(píng)估產(chǎn)品在受控環(huán)境下的可靠性,包括高溫、高濕和設(shè)備通電時(shí)的振動(dòng)/沖擊測(cè)試。目標(biāo)是模擬可能導(dǎo)致新產(chǎn)品即將失效的條件。在測(cè)試期間,產(chǎn)品在模擬環(huán)境中進(jìn)行監(jiān)控。電子產(chǎn)品的環(huán)境試驗(yàn)通常包括在一個(gè)小的環(huán)境室中進(jìn)行試驗(yàn)。濕度和腐蝕許多PCB將部署在潮濕的環(huán)境中,因此PCB可靠性的常見測(cè)試是吸水測(cè)試。在這種類型的測(cè)試中,PCB在
高低溫低氣壓試驗(yàn)箱使用條件之一: 環(huán)境條件 1、溫度:15℃~35℃; 2、相對(duì)濕度:不大于85%; 3、大氣壓:80kPa~106kPa 4、周圍無(wú)強(qiáng)烈振動(dòng),無(wú)腐蝕氣體; 5、無(wú)陽(yáng)光直接照射或其他冷、熱源直接輻射; 6、周圍無(wú)強(qiáng)烈氣流,當(dāng)周圍空氣需強(qiáng)制流動(dòng)時(shí),氣流不應(yīng)直接吹到箱體上; 7、周圍無(wú)干擾試驗(yàn)箱控制電路的磁場(chǎng)影響; 8、周圍無(wú)高濃度粉塵及腐蝕性物質(zhì)。 高低溫低氣壓試驗(yàn)箱使用條件之二:
1. 嚴(yán)禁將易燃、易爆、易揮發(fā)性物品置與箱中烘烤,以免發(fā)生爆炸事故。2. 工作室的感溫探頭請(qǐng)勿碰撞,以免失去控溫作用。3. 烘箱應(yīng)由*人員操作,嚴(yán)禁無(wú)人監(jiān)管運(yùn)行。4. 烘箱周圍 2 米范圍內(nèi)不得放置或堆積任何易燃、易爆、易揮發(fā)性物品,如:汽油、紙類、二甲苯、稀釋劑等。5. 工作室風(fēng)板孔、箱體進(jìn)氣孔、排氣孔不可堵塞,箱內(nèi)物品不宜放置過擠,以免影響熱風(fēng)循環(huán),造成溫度不均或發(fā)生其他不安全隱患。6. 烘
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