詞條
詞條說明
有試驗結(jié)果表明,在連續(xù)冷卻試驗中,光纖在-55℃以下,光纖的損耗增加,尤其是在-60℃以下,損耗較是顯著增加,不能滿足實際應用的需要。在連續(xù)升溫測試中(-70~-55℃),光纖損耗均有所下降,這表明由于溫度下降而導致的光纖損耗是可逆的,隨著溫度的回升,損耗也會隨之下降。?1、光纖的溫度特性是指在高、低溫條件下對光纖損耗的影響。在低溫條件下光纖損耗增大,這是由于光纖涂覆層、套塑層和石英的膨
非飽和加速壽命試驗箱(又名PCT加速老化試驗機)主要是測試半導體封裝之濕氣能力,待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度/濕度及壓力下測試,濕氣會沿著膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體,常見故障方式為主動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路,或封裝體引腳間因污染造成短路等。加速壽命試驗的目的:提高環(huán)境應力(如:溫度、氣壓)與工作應力(如:電壓、負荷等)加快試驗過程,縮短產(chǎn)品的壽命試驗時間。用于調(diào)查分析電子元器件、機械零件等的
1.短路試驗:每個測試電池樣品正、負極采取阻值<0.1QCu 線短接,電池放電直至起火或爆炸,或直至電池完全放電,殼體溫度重新降至室溫停止。試驗在室溫和60士2℃進行,電池在室溫或60℃±2℃達成和環(huán)境平衡穩(wěn)定后再短接。除非制造商指明是串聯(lián)或并聯(lián),電池應單獨測試。對于串聯(lián)或并聯(lián)應用,另外五套電池需進行測試,采取電池zui大數(shù)目依據(jù)所用串/并聯(lián)數(shù)目定。當電池中有過流或熱保護裝置時且已經(jīng)過UL認
溫度循環(huán)應力篩選 應力篩選(Environmental Stress Screening,簡稱ESS)說明: ?????應力篩選是產(chǎn)品在設計強度極限下,運用加速技巧外加環(huán)境應力,如:預燒(burn in)、溫度循環(huán)(temperature cycling)、隨機振動(random vibration)、開閉循環(huán)(power cycle)..等方法
公司名: 廣東宏展科技有限公司
聯(lián)系人: 曾小姐
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