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詞條說明
溫度循環(huán)試驗(yàn)箱該設(shè)備主要是針對于電工、電子產(chǎn)品,以及其原器件,及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時的適應(yīng)性試驗(yàn)。 1、溫度循環(huán)試驗(yàn)箱采用進(jìn)口7寸真彩觸摸屏,畫面顯示直觀.易操作,可做定值和程式控制,人機(jī)界面友好互動式操作控制。 2、250組12500段儲存,250天歷史數(shù)據(jù)保存功能. 3、預(yù)約開關(guān)機(jī)功能,結(jié)束規(guī)劃設(shè)定,停電自動保存數(shù)據(jù)曲線等. 4、標(biāo)配USB/RS-232接口,試驗(yàn)數(shù)
【報警的原因是什么?】一、制冷系統(tǒng)發(fā)生異常1.壓縮機(jī)**壓報警。在制冷劑壓力**過設(shè)定值時,設(shè)備會停止工作并報警,報警后需要技術(shù)人員排查故障原因,確認(rèn)原因后手動進(jìn)行復(fù)位。2.壓縮機(jī)過熱報警。當(dāng)壓縮機(jī)的線圈過熱、線路的供電異常的時候,設(shè)備會停機(jī)報警。3.循環(huán)冷卻水缺水報警。當(dāng)冷卻循環(huán)水系統(tǒng)的水不足時,設(shè)備會停機(jī)并報警,這時就需要手動加足水量并且復(fù)位,復(fù)位后設(shè)備才可正常運(yùn)行。4.電源缺相,相序報警。當(dāng)設(shè)備
半導(dǎo)體芯片在進(jìn)行高低溫測試時的注意事項(xiàng)
半導(dǎo)體芯片高低溫測試是jin屬、元器件、電子汽車配件、化學(xué)材料等材料行業(yè)經(jīng)常能用到的測試,用于測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料。在經(jīng)過高溫及較低溫的連續(xù)變化環(huán)境試驗(yàn)我們可以檢測出半導(dǎo)體芯片忍受較端溫度變化的程度,得以在短時間內(nèi)檢測到試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理損傷。在做半導(dǎo)體芯片高低溫測試需要特別注意,在使用的過程中不能輕易打開半導(dǎo)體芯片高低溫測試箱,主要原因如下:1.做半導(dǎo)體芯片高低溫測試時需要用
1.?IEC60086-4一次性鋰電池測試標(biāo)準(zhǔn)簡介在目前**或國內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)中,除了UN38.3等通用標(biāo)準(zhǔn)外,針對一次鋰電池(原電池)的特定標(biāo)準(zhǔn)并不多,其中IEC60086-4是常用的針對一次鋰電池的安全和可靠性標(biāo)準(zhǔn)。在此標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定了一次鋰原電池的檢驗(yàn)項(xiàng)目和要求,以鋰原電池在預(yù)期的使用以及可合理預(yù)見的誤使用情況下安全工作。2.IEC60086-4標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的檢驗(yàn)項(xiàng)目如下:海拔模擬:模擬在低壓體
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