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詞條說明
據(jù)標(biāo)準(zhǔn)要求高溫烘箱的工作室容積至少應(yīng)是被測試產(chǎn)品外廓體積的3~5倍,其理由如下:1、被測試產(chǎn)品置入箱體后擠占了流暢的通道,通道變窄將導(dǎo)致氣流流速的增加,加速氣流與被測試產(chǎn)品之間的熱交換。這與環(huán)境條件的再現(xiàn)不符,因?yàn)樵谟嘘P(guān)標(biāo)準(zhǔn)中對涉及溫度環(huán)境試驗(yàn)都規(guī)定高低溫試驗(yàn)箱內(nèi)試驗(yàn)樣件周圍的空氣流速不應(yīng)**過1.7m/s,以防止試驗(yàn)樣件和周圍氣氛產(chǎn)生不符合實(shí)際的熱傳導(dǎo),在空載時(shí)試驗(yàn)箱內(nèi)平均風(fēng)速為0.6~0.8m/
可程式高低溫試驗(yàn)箱箱使用方法以及注意事項(xiàng)
可程式高低溫試驗(yàn)箱箱是適用于工業(yè)產(chǎn)品高溫、低溫的可靠性試驗(yàn)。對電子電工、汽車摩托、航空航天、船舶兵器、高等院校、科研單位等相關(guān)產(chǎn)品的零部件及材料在高溫、低溫(交變)循環(huán)變化的情況下,檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能指標(biāo)??沙淌礁叩蜏卦囼?yàn)箱箱顧名思義具有較寬的溫度控制范圍,其性能指標(biāo)均達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)GB10592-89可程式高低溫試驗(yàn)箱箱技術(shù)條件,適用于按GB2423.1、GB2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)A:低
溫度循環(huán)試驗(yàn)箱是一種用于模擬各種環(huán)境條件下物品在溫度變化下的性能測試設(shè)備。它可以提供一系列溫度變化的環(huán)境,從較端寒冷到高溫,以便檢測和評估物品的可靠性和穩(wěn)定性。溫度循環(huán)試驗(yàn)箱在許多行業(yè)都有廣泛的應(yīng)用范圍,包括電子、電氣、汽車、航空航天、通信和材料等領(lǐng)域。在電子和電氣行業(yè)中,溫度循環(huán)試驗(yàn)箱主要用于測定電子元件、電路板和整機(jī)設(shè)備在不同溫度條件下的工作性能。例如,在手機(jī)制造過程中,溫度循環(huán)試驗(yàn)箱可以模擬
一、在無負(fù)載條件下開展校準(zhǔn):此方法的優(yōu)點(diǎn)是:高低溫試驗(yàn)箱的整個工作區(qū)域都得到了校準(zhǔn)、測試樣品變得較時(shí)不需要重新校準(zhǔn)、能夠?qū)Ω叩蜏卦囼?yàn)箱的適用性做出有效的評估。它的主要缺點(diǎn)是:不能評估測試樣品對試驗(yàn)箱所造成的影響。? 二、在有負(fù)載條件下開展校準(zhǔn):此方法的優(yōu)點(diǎn)是:能夠比較準(zhǔn)確地評估測試樣品對試驗(yàn)箱性能的影響、易于得到測試樣品關(guān)鍵部件或部位的環(huán)境試驗(yàn)的詳細(xì)信息。而它的主要缺點(diǎn)是:當(dāng)更換測試樣品
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