詞條
詞條說明
電子器件是一個非常復雜的系統(tǒng),其封裝過程的缺陷和失效也是非常復雜的。因此,研究封裝缺陷和失效需要對封裝過程有一個系統(tǒng)性的了解,這樣才能從多個角度去分析缺陷產(chǎn)生的原因。?封裝的失效機理可以分為兩類:過應力和磨損。過應力失效往往是瞬時的、災難性的;磨損失效是長期的累積損壞,往往首先表示為性能退化,接著才是器件失效。失效的負載類型又可以分為機械、熱、電氣、輻射和化學負載等。?影響封裝
北美標準知識ASTM標準ASTM美國材料實驗協(xié)會(American Society of Testing Materials)前身是**材料試驗協(xié)會(International Association for Testi ng Materials,IATM)。NEMA標準英文名稱:National Electrical Manufactures Association NEMA成立于1926年。美
檢測項目:物化指標:運動黏度(40℃、100℃)、傾點、表觀粘度達150Pa-S時的溫度、閃點(開口)、成溝點、粘度指數(shù)、起泡性、腐蝕試驗、機械雜質(zhì)、水分、戊烷不溶物、硫酸鹽灰分、硫、磷、氮、鈣、使用性能:貯存穩(wěn)定性、銹蝕試驗、抗擦傷試驗、承載能力、熱氧化安定性檢測標準:GB13895-1992重負荷車輛齒輪油(GL-5)GB11118.1-2011液壓油GB5903-2011工業(yè)閉式齒輪油(GL
粉塵爆炸性參數(shù)測試目的u 了解粉塵特性u 規(guī)范粉體企業(yè)的安全生產(chǎn)u 為企業(yè)防爆電氣的選型安裝提供依據(jù)u 排除粉塵爆炸事故隱患一、粉塵爆燃特性參數(shù)測試1) 粉塵爆炸性測試u 粉塵爆炸篩選2) 粉塵爆炸感度參數(shù)u 粉塵云小點火能u 粉塵層低著火溫度u 粉塵云低著火溫度u 粉塵層比電阻u 粉塵爆炸下限濃度國檢中心CNAS資質(zhì)u 粉塵云極限氧濃度3) 粉塵爆炸烈度參數(shù)u 大爆炸壓力u 大爆炸壓力上升速率u
公司名: 深圳市訊科標準技術服務有限公司
聯(lián)系人: 蔡慧剛
電 話: 13378656621
手 機: 13378656621
微 信: 13378656621
地 址: 廣東深圳寶安區(qū)寶安區(qū)
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網(wǎng) 址: buokao987488.cn.b2b168.com
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